ロジック、システムLSI等のデバイスを対象に、温度環境下でのモニターバーンインを行う装置です。デバイスからの出力値と期待値を比較しながらサンプルの良否判定が可能です。必要なテストパターンを容易に作成でき、高い生産性をご提供します。システムはモジュール化されており、信頼性試験からスクリーニングまで、ご要望の試験温度や発熱負荷に応じた最適なテスト環境をご提供します。