卓上型無風恒温槽ワンデバイスチャンバー

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機器概要
特長
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機器概要

オフィスや研究室のデスクに設置可能なコンパクトモデル。
無風状態で槽内均熱化を実現し、半導体やプリント実装基板の温度特性評価や熱解析の検証に最適です。

温湿度環境下での材料試験の動画や試験事例集、材料に関する評価分析・動向などの情報発信サイト

近年、5G通信・自動運転の普及に伴い、高発熱部品や高密度実装基板の熱対策が課題となっています。また、光通信用デバイスや高周波デバイスにおいては、電気的性質が温度に依存するため、開発段階で「熱設計」や「サーマルマネジメント（熱管理）」のための評価が重視されています。

ワンデバイスチャンバーは、温度範囲－30℃～＋130℃の卓上型無風恒温槽です。天面に大型観測窓を備えており、温度環境下での観察が容易にできます。さらに、試料と計測機器との配線取り回しがシンプルで、通常のAC100Vで使用可能なため、オフィスや研究室のデスクで設計業務をしながら、手軽に温度環境下での熱変形観察や電気的計測を実施いただけます。
3次元デジタル画像相関法（3D DIC）やサーモビュアーとの組み合わせによる、温度環境下での熱変形計測も可能です。
熱変形計測システム・受託解析サービス紹介ページ

※ 外囲温度＋23℃、定格電圧、無試料。一次側冷却水循環装置（冷却能力1200W、制御温度10℃以下、流量8L／min）における性能です。

本内容は、2024年1月現在のものです。
製品の改良･改善のため、仕様および外観、その他を予告なく変更することがあります。あらかじめご了承ください。

特長

無風状態での槽内均一化と試験効率の向上の実現

電子式加熱冷却機構と弊社独自の壁面伝熱方式（特許出願中）を採用し、無風状態での槽内均一化を実現しました。半導体パッケージ内のICチップなど、放熱性評価時に風の影響が気になる試料に活用いただけます。また素早い温度変化で試験の効率化が図れます。

（試験条件+5℃、無通電）
（試験条件+80℃、無通電）

※扉を開けた状態で基板および槽内のサーモグラフィを撮影

卓上型で省スペース。AC100V電源で使用可能: 試験槽外法W272×H130×D232mm＋コントローラーW220×H135×D320㎜とコンパクトな設置スペースです。AC100Vのオフィス用コンセントに接続いただけます。

低振動、配線短縮による観察・計測品質の向上: 電子式加熱冷却機構により槽内は低振動を実現。試料観察時の影響を少なくしました。
さらに、デスク上に振動源がなくなり、計測機器の近くに設置が可能なため、計測機器の信号配線の取り回しによる信号品質への影響を防ぐことができます。

屈折率の低い観測窓ガラスを採用

天面全体に低屈折率ガラス（石英ガラス）製の観測窓を備えているため、視認性がよく、顕微鏡・マイクロスコープカメラなどといった光学機器と組み合わせた評価が可能です。
熱による形状変化を観察する試験や、発光デバイスの試験にも最適です。

結露対策の対応: 観測窓内へのドライエアー配管を標準装備し、低温試験時の窓ガラスの曇りを防止します。
また、オプションで槽内ドライエアー導入も選択いただくことで、低温試験時の試料への結露対策も可能です。

カスタム事例

サーモプレートタイプ

電子部品や実装基板等をサーモプレート上に直接接触させ、低温・高温にコントロールするタイプです。高発熱部分のみ温度コントールする評価や外部計測器等の配線接続が容易など、様々な利用シーンでご活用いただけます。
（注）プレートカバー内の空気温度はコントールできません

製品に関するお問い合わせ: カスタマーサポートデスク