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機器概要

試料を直接冷却・加熱し、試験を効率化するチャンバーレスシステム。
様々な計測機器や分析・解析機器、材料試験機との組合せが可能なフレキシブル性の高い装置です。

近年進みつつある携帯機器の5G(第5世代移動通信システム)化や車両の自動運転化を支える、最先端の半導体パッケージや実装基板は、データ転送量の増加や処理速度の高速化により、消費電力や発熱の増大を招くことがあります。また自動車に搭載される車載センサーなどは、機器の負荷変動・ON/OFF周期・昼夜サイクル・季節的変化など、様々な環境条件にさらされることにより、多くの熱的ストレスを受けています。そのため半導体・電子部品や先端材料における研究開発では様々な温度環境下における評価の重要性が高まっています。

スポット冷却加熱装置はホースを通じて-40℃~+180℃に温度調節した空気を噴射し、試料を冷却、加熱するチャンバーレスシステムです。
恒温空気を供給したいエリアに合わせた専用アタッチメントをご提案します。
また、様々な計測機器や分析・解析機器、材料試験機と組み合わせることが可能です。

  • ドアレス、チャンバーレスの試験の実現が可能。センサーやカメラの評価に最適。
    3D変位ひずみ測定システムや赤外線サーモグラフィーカメラとの組み合わせも可能。
  • ワンウェイで恒温空気を供給するため、10℃/分と素早い温度変化を実現。温度移行時間短縮で温度特性評価に最適。
  • 省スペース化を実現。万能試験機用恒温槽と比較し、奥行方向約3分の1(D:652㎜)までコンパクト化。

ソリューション事例

スポット冷却加熱装置は先端のアタッチメントを交換することで、半導体・電子部品の評価試験や材料試験など様々な用途でご活用頂けます。
また、恒温槽の観測窓ガラス越しのでは測定が難しい、画像計測やセンシングデバイスなどに対し、ドアを開放した状態(ドアレス)での評価が可能となりました。

型式 MTA-170
吹出温度制御範囲(吹出温度設定範囲) ‐40℃~+180℃(‐60℃~+200℃)
安定時温度変動 ±0.5℃
温度変化速度
(上昇:‐29℃⇒+169℃)
(下降:+169℃⇒-29℃)
10℃/分
電源 AC200V 1φ 2W 50/60Hz
最大電流20A、漏電遮断器定格電流30A
圧縮空気源 (0.55~1.0MPa)
※露点温度‐60℃以下、空気温度30℃以下
140~200NL/min
外寸法 W502×H1263×D652(㎜)
重量 200kg

※性能は当社指定のスポット吹出治具・ホース2m、かつ外囲温度23℃にて測定したデータです。

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