スポット冷却加熱装置

カスタム品

機器概要
特長

機器概要

試料を直接冷却・加熱し、試験を効率化するチャンバーレスシステム
試料や試験方法に合わせてフレキシブルにアタッチメントを提案
様々な計測機器や分析・解析機器等との組み合わせが可能

温度変化速度100℃／分の「先端ヒータータイプ」を新たに加え
デバイスやモジュール基板の温度特性評価の効率化がはかれます

温湿度環境下での材料試験の動画や試験事例集、材料に関する評価分析・動向などの情報発信サイト

近年進みつつある携帯機器の5G（第5世代移動通信システム）化や車両の自動運転化を支える、最先端の半導体パッケージや実装基板は、データ転送量の増加や処理速度の高速化により、消費電力や発熱の増大を招くことがあります。また自動車に搭載される車載センサーなどは、機器の負荷変動・ON/OFF周期・昼夜サイクル・季節的変化など、様々な環境条件にさらされることにより、多くの熱的ストレスを受けています。そのため半導体・電子部品や先端材料における研究開発では様々な温度環境下における評価の重要性が高まっています。

スポット冷却加熱装置はホースを通じて－40℃～＋180℃に温度調節した空気を噴射し、試料を冷却・加熱するチャンバーレスシステムです。新たにラインナップに加えた「先端ヒータータイプ」は、100℃/分（空気温度）の温度変化速度で、大幅な試験時間の短縮が可能になりました。
試料や試験方法に合わせたアタッチメントを用いて、フレキシブルに恒温エリアを作り出すことで、恒温槽では実施が難しい試験を実現したり、様々な計測機器や分析・解析機器等と組み合わせたりすることが可能です。

ワンウェイで恒温空気を供給し、アタッチメントを自由に付け替え可能、キャスター付きで移動も容易なため、様々な用途や複数の研究室で併用いただけます。
3次元デジタル画像相関法（3D DIC）やサーモビュアーとの組み合わせによる、温度環境下での熱変形計測も可能です。
熱変形計測システム・受託解析サービス紹介ページ

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型式	MTA-171 先端ヒータータイプ（NEW）	MTA-171 背面ヒータータイプ
特徴	温度変化速度100℃/分（空気温度）タイプ水平垂直多関節アームを搭載しているため、吹出口の位置調整が容易です。	温度変化速度10℃/分タイプフレキシブルホース（長さ2000mm）の採用により、試料や評価装置の駆動に吹出口を追随させることが可能です。
吹出温度制御範囲（吹出温度設定範囲）	ー40℃～+180℃（ー60℃～+200℃）
安定時温度変動	±1.0℃	±0.5℃
温度変化速度（上昇：‐29℃⇒+169℃）（下降：+169℃⇒-29℃）	100℃／分	10℃／分
温度極値到達時間（上昇：+23℃⇒+180℃）（下降：+23℃⇒-40℃）	2分	20分
電源	AC200V 1φ 2W 50／60Hz 最大電流20A、漏電遮断器定格電流30A
圧縮空気源 (0.55～1.0MPa) ※露点温度‐60℃以下、空気温度30℃以下	140～200NL/min
外寸法（突起部を除く）	W560×H1376×D684 (mm)
重量	200kg
オプション	吹出温度制御範囲拡大（ー40℃～＋250℃）	－

※性能は外囲温度23℃、外囲湿度65%、定格電圧、空気流量170L/min、圧縮空気温度30℃以下、圧縮空気露点温度－60℃以下において、標準吹出口を用いて測定したデータです。

特長

フレキシブルに恒温エリアを創出: お客様の実現されたい試験方法に合わせて、様々な形状や材質でアタッチメントを提案いたします。

カップ型アタッチメントで素早く試験環境を提供デバイスやモジュール基板などの小さい試料は専用断熱シリコン製カップを用いることで、素早く試験環境に到達します。
箱型アタッチメントと組み合わせることで均一な試験環境を実現箱型アタッチメントと組み合わせることで大型試料にも均一な試験環境を実現します。さらに、観測用途に観測窓を取り付けることも可能です。
ドアレス試験環境（センサー・カメラ評価）の実現ドアを開放した状態（ドアレス）で一定時間試料温度を維持することができるため、車載センサーや三次元デジタル画像相関法（3D DIC）やサーモビュアーでの計測にも最適です。
各種試験機と組み合わせた試験環境の提供様々な材料試験機とセットアップが可能です。試験片の評価部のみをコンパクトに囲うことで、試験片交換後の温度復帰時間を短縮します。

より試験時間を短縮（先端ヒーターモデル）

ホースの先端にヒーターを搭載することで、温度変化速度100℃/分（空気温度）を実現し、温度移行時間を大幅に短縮しました。
吹出口先端にアタッチメントを取り付け、評価したい試料の全体もしくは一部をコンパクトに囲うことで、温度サイクル試験や、冷熱衝撃試験の試験時間を短縮することがでます。
また、従来の恒温槽や冷熱衝撃装置と比べると電力消費量を大幅に削減することができます。