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機器概要

JEDEC規格からスクリーニングまで、試料への急速温度変化への対応にジャストフィットした 急速温度変化チャンバー。 パソコンやタブレット端末から試験器を操作できるWebアプリケーションを内蔵。Webブラウザ画面で、試験器の状態を確認できます。

試料温度負荷は均一で再現性に優れた温度変化速度
試料温度ランプ制御
JEDEC規格(JESD22-A104E)の規格試験に対応
試料温度制御と空気温度制御に対応
シリーズ構成
型式 温度範囲 性能 内法/外法(mm)
ランプ制御 試料 温度上昇下降時間 温度変化速度
TCC-151W -70~
+180℃
OFF なし -45⇔+155℃
(設定:-70℃ +180℃)
上昇: 9分以内(23℃/分)
下降:11分以内(18℃/分)
W800 H500 D400 /
W1000 H1808 D1915
-23.5⇔+108.5℃
(設定:-40℃ +125℃)
上昇:5分以内(26℃/分)
下降:7分以内(20℃/分)
ON 基板5kg
+治具4kg
-23.5⇔+108.5℃
(設定:-40℃ +125℃)
15℃/分(ランプ制御)
TCC-400W
※カスタム品
OFF アルミ35kg -40⇔+120℃
10℃/分
W800 H891 D600 /
W1000 H1808 D2065
TCC-600W
※カスタム品
アルミ85kg -40⇔+120℃
5℃/分
W800 H941 D800 /
W1000 H1879 D1915

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特長

高精度な試験環境を支える独自の技術

疲労寿命は、ひずみ速度、ひずみ波形に依存します。温度サイクル槽においては、ひずみ速度は、温度変化速度によって変わり、ひずみ波形は、温度上昇/下降時の試料温度変化波形の対称性に左右されます。
再現性の高いランプ制御
TCCの試料温度ランプ運転では、温度上昇、下降時のランプレートを制御し、ひずみ波形を対称的にすることができます。試料の量が変わっても、毎回同じランプレートで試験を行え、ひずみ速度を一定に保ちます。非常に再現性の高い試験を行うことができます。
JESD22-A104Eの規格試験に対応
試料温度ランプレート15℃/分以下(−40~+125℃)の規格試験を、簡単で正確に行うことができます。
自動車試験規格、はんだ接合部の寿命評価、半導体デバイス、半導体パッケージの信頼性評価に最適です。
代表的な試験規格: IEC60749-25、JESD22-A104E
槽内温度差を最小限に抑え、試料へ均一な温度負荷を与えます
試料温度制御と空気温度制御に対応
JEDEC規格の試料温度15℃/分の温度勾配が行える試料温度制御と、温度サイクル試験が行える空気温度制御の2つの制御方式を採用。各種試験規格からスクリーニングまで幅広い用途にご利用いただけます。

グラフ:温度変化(例)

グラフ:試料温度ランプ制御(例)

両側配線で作業性向上
フラットケーブルも配線しやすい長孔型(φ25×100㎜)のケーブル孔を左右に標準装備。両サイドから槽内にアクセスできます。槽内は、W800×H500×D400㎜、内容量は160Lと大容量。
テストエリア
テストエリア
温度変化率で入力が可能(特許出願中)
ランプレート(小数点第1位)を入力するだけで、ステップ時間を自動計算します。
多言語対応
どの画面からでも簡単に言語(日本語、英語、中国語(簡体・繁体)、韓国語)の切り替えができます。
遠隔からのモニタリングや運転操作
LANポートを標準装備し、LANにより接続された装置の試験状況を、Webブラウザでモニタリングすることができます。プログラムの設定変更・運転開始/停止などの操作も行えます。
便利なE-mail通報
試験終了やメンテナンス時期、万が一警報が発生した場合、E-mailでお知らせします。

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