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機器概要

JEDEC規格からスクリーニングまで、試料への急速温度変化への対応にジャストフィットした 急速温度変化チャンバー。 試料温度変化率を一定にするための試料温度制御技術をはじめ、急速温度変化技術、ランプ制御技術など数々の技術を投入いたしました。

試料温度負荷は均一で再現性に優れた温度変化速度
試料温度ランプ制御
JEDEC規格(JESD22-A104E)の規格試験に対応
試料温度制御と空気温度制御に対応
シリーズ構成
型式 温度範囲 性能 内法/外法(mm)
ランプ制御 試料 温度上昇下降時間 温度変化速度
TCC-150W -70~
+180℃
OFF なし -45⇔+155℃
(設定:-70℃ +180℃)
上昇: 9分以内(23℃/分)
下降:11分以内(18℃/分)
W800 H500 D400 /
W1000 H1808 D1915
-23.5⇔+108.5℃
(設定:-40℃ +125℃)
上昇:5分以内(26℃/分)
下降:7分以内(20℃/分)
ON 基板5kg
+治具4kg
-23.5⇔+108.5℃
(設定:-40℃ +125℃)
15℃/分(ランプ制御)
TCC-400W
※カスタム品
OFF アルミ35kg -40⇔+120℃
10℃/分
W800 H891 D600 /
W1000 H1808 D2065
TCC-600W
※カスタム品
アルミ85kg -40⇔+120℃
5℃/分
W800 H941 D800 /
W1000 H1879 D1915

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特長

高精度な試験環境を支える独自の技術

均一なストレスを実現
最適な風量と風速分布をシミュレーションで割り出し、試験空間内の試料設置位置の違いによるストレスの違いを最小限に抑え、より正確な急速温度変化試験が行えます。

グラフ:温度変化(例)

試料温度ランプ制御
試料温度変化率を一定にするために、試料温度測定センサ(1点)の採用と試料温度を高精度にランプ制御させる高速制御コントローラ。測定・制御を高速で処理するとともに、低温時の冷凍能力の拡大や試料と空気温度差を最小限に抑える空調技術、試料温度分布を最小にする風速分布の均一化など、さまざまな技術で試料温度ランプ制御を実現しています。

グラフ:試料温度ランプ制御(例)

JEDEC規格(JESD22-A104E)の規格試験に対応
半導体パッケージ評価、はんだ接合部評価のJESD22-A104E規格を実現した急速温度変化チャンバーは、15℃/分(-40℃~+125℃)の試料温度ランプ制御が行えます。
試料温度制御と空気温度制御に対応
JEDEC規格の試料温度15℃/分の温度勾配が行える試料温度制御と、温度サイクル試験が行える空気温度制御の2つの制御方式を採用。各種試験規格からスクリーニングまで幅広い用途にご利用いただけます。
大容量テストエリア
B5サイズの基板を立てて置いた場合、最大60枚入れることができます。
テストエリア
テストエリア
試料測定などの配線作業が容易に行えます
高・低温サイクル試験における試料測定や電圧印加のケーブル配線作業が行い易い両サイドフリー構造を採用。ケーブル孔を装置左右両側面に設置しています。
自閉防止機能付き扉蝶番を採用
自閉防止機能付扉蝶番を採用、扉は開閉角度60°と120°で一時停止し、より安全性を高めました。

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