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コンデンサ絶縁劣化
試験システム

小型・高性能電子機器を支えている電子部品。その構造は高密度・複雑化とともに微細化の一途をたどり、小型で大容量、低ESR化をはじめ、地球環境保護にも対応した部品の開発が積極的に進められています。なかでもコンデンサはノートパソコン、携帯電話、携帯端末をはじめBluetoothなどマルチメディア機器を革新していく上で必要不可欠なキーデバイスです。その性能や安全性を確認するための信頼性試験は今後ますます欠かせないものとなっています。エスペックは、高温や高温高湿試験環境下でコンデンサの絶縁劣化特性の自動評価を可能にした「コンデンサ絶縁劣化試験システム」を開発。 このシステムは任意の高温(高湿)試験環境下においてコンデンサに電圧を印加し、絶縁破壊による漏れ電流を捉えます。絶縁破壊により漏れ電流発生の表示、故障検出と故障算出、累積ハザードによる故障解析など多彩なデータ処理、解析機能を搭載した自動計測システムです。

機器概要

特長
  • 高温、高温高湿下でコンデンサの絶縁劣化特性を自動的に評価することができます。
  • 標準500チャンネル、最大1,000チャンネルまで増設できます。
  • 絶縁抵抗を10kΩ~100MΩの範囲で測定することができます。
  • 25チャンネル単位で試験条件を設定することができます(印加電圧値は100チャンネルごと)。
  • 高温槽の温度・湿度、故障発生数、区間故障率をリアルタイムに表示、確認できます。
  • 故障発生件数のヒストグラム、故障率曲線および累積ハザードによるデータ解析により絶縁劣化特性を評価できます。
  • ボード実装タイプ、コンタクトプローブタイプなど、各種のコンデンサ搭載治具に対応します。
特長
  • セラミックチップコンデンサおよび各種コンデンサの絶縁劣化試験

システムブロック図

詳細仕様

左右にスクロールしてご覧ください。

チャンネル構成 標準500チャンネル、 最大1000チャンネルまで増設可能
ソフトウェア OS Windows7
計装制御 ストレス電圧印加範囲 DC1.0~100V (50Vまで0.1V、50V以上 1Vステップで変更可)
電源容量 100V 3A(100チャンネルに1台電源搭載) 1チャンネルあたりコンデンサと直列に保護抵抗10kΩを接続した場合
抵抗測定範囲 10kΩ~100MΩ(at DC1V~100V)
測定速度 3秒以下/チャンネル(ただし、コンデンサ容量により異なる)
試験条件 設定単位 25チャンネル単位。試験チャンネルは1チャンネル単位で選択。 ただし、印加電圧は100チャンネル単位
制御単位 500チャンネル
故障判定基準
(4種類)
(1)絶縁抵抗リミット1[絶縁抵抗値、試験停止] (2)絶縁抵抗リミット2[絶縁抵抗値、故障表示のみ] (3)変化値リミット[初期値からの変化量、試験停止] (4)変化率リミット[初期値からの変化率、試験停止]試験停止は故障発生チャンネルのみ
試験条件 設定単位 (1)中断:全試験チャンネル中断(指定の温湿度へ自動制御)
(2)強制終了:全チャンネル試験終了または任意チャンネル終了を選択
データ処理 稼働状況表示 試験温湿度、残存サンプル数、故障発生件数、 全体・区間故障率、試験条件、ディスク空き容量、 試験ユニット・チャンネルごとの抵抗値、故障発生状況など
グラフ表示 試験ユニット単位(25チャンネル)、1チャンネル毎に絶縁抵抗値の変化をグラフ表示
データ表示および
データ変換
試験ユニット単位で故障発生表示、 1チャンネルごとに絶縁抵抗値表示、 テキストデータ及び2次データ変換(データ解析ソフト用)機能
データ解析 ヒストグラム 試験時間に対する故障発生件数をヒストグラム X軸:区間分けした時間 Y軸:故障発生件数
故障率曲線 試験時間に対する故障率グラフ X軸:試験時間 Y軸:各測定時間での故障率
ワイブル解析 ワイブルプロットおよびm、η、γ、MTTF、σ、メジアンなどパラメータ推定値算出
故障データ 絶対抵抗リミット1、絶対抵抗リミット2、 変化値リミット、変化率リミットから選択可
データ解析 試験終了後のみ有効
サンプル搭載治具 テスト基板実装タイプ、コンタクトピンタイプなど
高温槽 高温高湿器または高温器
要求設備(チャンバー除く) AC100V 1φ15A、AC200V 1φ30A
  • ※ 仕様は予告なく変更することがあります。
  • ※ Windowsは米国Microsoft Corporationの登録商標です。

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