急速温度変化チャンバー

JEDEC規格からスクリーニングまで、試料への急速温度変化への対応にジャストフィットした急速温度変化チャンバー。パソコンやタブレット端末から試験器を操作できるWebアプリケーションを内蔵。Webブラウザ画面で、試験器の状態を確認できます。

左右にスクロールしてご覧ください。

型式	温度範囲	性能			内法/外法（mm）
型式	温度範囲	ランプ制御	試料	温度上昇下降時間温度変化速度	内法/外法（mm）
TCC-151W	－70～＋180℃	OFF	なし	－45⇔＋155℃ （設定：－70℃ ＋180℃）上昇： 9分以内（23℃/分）下降：11分以内（18℃/分）	W800xH500xD400 / W1000xH1808xD1915
		OFF	なし	－23.5⇔＋108.5℃ （設定：－40℃ ＋125℃）上昇：5分以内（26℃/分）下降：7分以内（20℃/分）
		ON	基板5kg ＋治具4kg	－23.5⇔＋108.5℃ （設定：－40℃ ＋125℃） 15℃/分（ランプ制御）
TCC-400W ※カスタム品		OFF	アルミ 35kg	－40⇔＋120℃ 10℃/分	W800xH891xD600 / W1000xH1808xD2065
TCC-600W ※カスタム品		OFF	アルミ 85kg	－40⇔＋120℃ 5℃/分	W800xH941xD800 / W1000xH1879xD1915

疲労寿命は、ひずみ速度、ひずみ波形に依存します。温度サイクル槽においては、ひずみ速度は、温度変化速度によって変わり、ひずみ波形は、温度上昇／下降時の試料温度変化波形の対称性に左右されます。
再現性の高いランプ制御: TCCの試料温度ランプ運転では、温度上昇、下降時のランプレートを制御し、ひずみ波形を対称的にすることができます。試料の量が変わっても、毎回同じランプレートで試験を行え、ひずみ速度を一定に保ちます。非常に再現性の高い試験を行うことができます。
JESD22ーA104Fの規格試験に対応: 試料温度ランプレート15℃/分以下（−40～+125℃）の規格試験を、簡単で正確に行うことができます。
自動車試験規格、はんだ接合部の寿命評価、半導体デバイス、半導体パッケージの信頼性評価に最適です。
代表的な試験規格： IEC60749-25、JESD22-A104F
槽内温度差を最小限に抑え、試料へ均一な温度負荷を与えます
試料温度制御と空気温度制御に対応: JEDEC規格の試料温度15℃／分の温度勾配が行える試料温度制御と、温度サイクル試験が行える空気温度制御の2つの制御方式を採用。各種試験規格からスクリーニングまで幅広い用途にご利用いただけます。

両側配線で作業性向上: フラットケーブルも配線しやすい長孔型（φ25×100㎜）のケーブル孔を左右に標準装備。両サイドから槽内にアクセスできます。槽内は、W800×H500×D400㎜、内容量は160Ｌと大容量。

遠隔からのモニタリングや運転操作: LANポートを標準装備し、LANにより接続された装置の試験状況を、Webブラウザでモニタリングすることができます。プログラムの設定変更・運転開始/停止などの操作も行えます。