機器概要
無風状態で温度範囲-30℃~+150℃を実現し、省スペースで軽量なコンパクトモデルです。新型コントローラーとPC専用ソフトウェアでプログラム運転に対応できるようになりました。半導体や電子実装基板の発熱状態時の無風環境での温度特性評価や光学的評価に最適です。
近年、5G通信・自動運転の普及に伴い、高発熱部品や高密度実装基板の熱対策が課題となっており、対流の影響がない無風状態の実験環境が重視されています。また、光デバイスや高周波デバイスにおいては、電気的性質が温度に依存するため、開発段階で「熱設計」や「サーマルマネジメント(熱管理)」のための評価が必要となっています。
ワンデバイスチャンバーは無風状態で温度範囲-30℃~+150℃を実現し、AC100V電源・省スペースで使用可能な卓上型恒温槽です。天面には大型観測窓を備え、PCと接続し専用ソフトウェアを用いることで、運転操作やプログラム運転、通信連動による制御が可能です。研究室や実験室のデスクサイドで手軽に、温度環境下での電気的計測や、光学機器との組み合わせによる観察ニーズにも対応します。
3次元デジタル画像相関法(3D DIC)やサーモビュアーとの組み合わせによる、温度環境下での熱変形計測も可能です。
熱変形計測システム・受託解析サービス紹介ページ
- 用途事例
-
- IT機器やECUなどに組み込んだ半導体や実装基板の、
発熱状態時の無風環境での温度特性評価(電気的特性、熱特性など) - 温度環境下での材料や電子部品の光学的評価(変形、変色、ゆがみなど)
- 光デバイス(半導体レーザー、光モジュール)の動作温度変化に対する電気的・光学的評価(波長、出力特性など)
- 各種計測器や光学観察装置と組み合わせたシステムアップ
- IT機器やECUなどに組み込んだ半導体や実装基板の、
- ※1 冷却水循環装置に不凍液を使用時は、-40℃まで到達可能です。
- ※2 外囲温度+23℃、定格電圧、無試料。
冷却水循環装置(冷却能力1200W、供給口水温8℃、供給口流量8L/min)における性能です。
特長
- 半導体、電子実装基板評価の温度範囲を網羅
- 温度範囲-30℃~+150℃(冷却水循環装置に不凍液を使用時は-40℃まで到達可能)と、幅広い温度範囲を実現しました。サンプルおよび観測窓の結露対策として、槽内・観測窓へのドライエア供給口もご用意しております。
- プログラム運転、温度サイクル試験対応
- PCと接続し専用ソフトウェアを用いることで、各種設定や運転操作、プログラム運転が可能となりました。通信機能を用いて冷却水循環装置のポンプ送水機能と連動させることで、温度サイクル試験を自動化します。設定温度や測定温度など各種情報のCSVファイルへの収録も可能です。
-
PC専用ソフトウェア画面
- 卓上型で省スペース。AC100V電源で使用可能
- コントローラーが従来機種よりW110mmコンパクトになり、試験槽外法W295×H146×D236mm、コントローラーW110×H240×D270㎜とさらに省スペースで設置いただけるようになりました。また、合計質量14kgと軽く、AC100Vコンセントに接続して使用いただけるため、試験室や研究所内の装置の移動も容易です。
- 低振動、配線短縮による観察・計測品質の向上
- 電子式加熱冷却機構により槽内は低振動を実現。試料観察時の影響を少なくしました。
さらに、デスク上に振動源がなくなり、計測機器の近くに設置が可能なため、計測機器の信号配線の取り回しによる信号品質への影響を防ぐことができます。 
- 温度環境下での光学計測や観察
- 天面全体に低屈折率ガラスの観測窓を備えているため視認性がよく、顕微鏡・マイクロスコープカメラなどといった光学機器と組み合わせた評価が可能です。熱による形状変化を観察する試験や、発光デバイスの試験にも最適です。
-
-
カスタム事例
- サーモプレートタイプ
- 電子部品や実装基板等をサーモプレート上に直接接触させ、低温・高温にコントロールするタイプです。高発熱部分のみ温度コントールする評価や外部計測器等の配線接続が容易など、様々な利用シーンでご活用いただけます。
(注)プレートカバー内の空気温度はコントールできません -
-







温湿度環境下での材料試験の動画や試験事例集、材料に関する評価分析・動向などの情報発信サイト

