大型高度加速寿命試験装置
HASTチャンバー
機器概要
電気・電子部品の高密度化に伴い、高度加速寿命試験装置の需要が増加しています。当装置は一定電圧・信号印加によるバイアステストに対応した端子を装備し、「不飽和制御」・「濡れ飽和制御」（標準タイプ）、および「乾湿球温度制御」を含む3モード対応のMタイプをご用意。大型ながら国際規格IEC-60068-2-66に適合し、プレッシャークッカー試験にも対応可能です。さらに、大容量モデルは従来機より多くの試料を収容でき、奥行きを拡張したロングタイプもラインナップ。試験条件や試料サイズに応じた柔軟な対応が可能です。
- 特徴
-
- 常圧下での耐湿試験に比べて、試験時間の短縮が可能
- 標準品に加え、より大きな試料投入に対応した2タイプをラインナップ
- 機械式扉ロック機構／扉ロックセーフティ機構を標準で装備
対応規格
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| 規格番号 | 対象品目 | 方式 | |
|---|---|---|---|
| 半導体向け※1 | IEC 60068-2-66 | 小型の電気・電子部品（主に非気密封止部品） | 不飽和 |
| IEC 60749-4 | 半導体デバイス | 不飽和 | |
| JEITA(EIAJ) ED-4701 | 半導体デバイス | 不飽和 | |
| JESD22-A110E | 非気密封止(中空でない)デバイス | 不飽和 | |
| JESD22-A102E | 非気密封止IC、ディスクリートデバイス | 飽和 | |
| その他 試験規格 |
JIS C 60068-2-66 | 集積回路、半導体素子のアルミニウム金属の腐食 | 不飽和 |
| JPCA-ET08-2002 | プリント配線板 | 不飽和 |
※1：こちらの試験規格に適合した試験を実施するには、M計装を選択してください。
仕様
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| 型式 | EHS-432(M) ※(M)乾湿球温度制御あり |
EHS-432(M)-L L：チャンバーロングタイプ |
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| 寸法 | 試験室内容積 | 130L | 180L |
| 試験室内法 | φ548mm×L560mm | φ548mm×L760mm | |
| 外寸法（W×H×D） | W800×H1575×D1260 mm | W800×H1575×D1460 mm | |
| 性能 | 不飽和制御 | 温度制御範囲105.0～162.2℃ | |
| 湿度制御範囲75～100％rh | |||
| 圧力範囲0.0196～0.392MPa（Gauge） | |||
| 加熱加圧時間（atRT.23℃）約90分 | 加熱加圧時間（atRT.23℃）約120分 | ||
| 濡れ飽和制御 | 温度制御範囲105.0～151.1℃ | ||
| 圧力範囲0.0196～0.392MPa（Gauge） | |||
| 加熱加圧時間（atRT.23℃）約90分 | 加熱加圧時間（atRT.23℃）約120分 | ||
| 乾湿球温度制御 （Mタイプのみ） |
温度制御範囲105.0～162.2℃ | ||
| 湿度制御範囲75～95％rh | |||
| 圧力範囲0.0196～0.392MPa（Gauge） | |||
| 加熱加圧時間（atRT.23℃）約120分 | 加熱加圧時間（atRT.23℃）約150分 | ||
備考：大型高度加速寿命試験装置は（EHS-432）は、法令上の第1種圧力容器に該当します。（※チャンバーサイズがロングタイプのEHS-432Lも法令上の第1種圧力容器に該当します。)
したがって、本装置の納入設置30日前までには、所轄労働基準監督署に「設置届」「落成検査申請及び落成検査」の手続きが必要となるほか、本装置の使用・管理にあたっては、普通第1種圧力容器取扱作業主任者を選任する必要があります。
海外輸出においては、該当する規格によって圧力容器に対する制限があります圧力容器に対する制限があります。詳しくはお問い合わせください。
- ※ワイドレンジHAST試験、ウィスカ加速試験、エアーHAST試験につきましては個別に対応いたします。弊社営業までお問い合わせください。
- ※試料電源端子につきましては、お客様の要求にあった仕様でご提案いたします。弊社営業までお問い合わせください。
- ※高電圧を槽内に導入するご要求においては、槽内放電を起こす可能性がありますので、詳細な仕様を確認した上で個別に対応いたします。弊社営業までお問い合わせください。なお、沿面距離を確保できないなどの理由により、対応ができない可能性がございます。予めご了承ください。
- 試験事例
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- ワイヤボンディングの導通評価
試料：半導体パッケージ
試験条件例：130℃/85%rh 100h- LEDの湿度劣化評価
試料：LED
試験条件例：105℃/87%rh 250h- ウィスカ評価
試料：プリント基板
試験条件例：120℃/85%rh 2500h- マイグレーション評価
試料：プリント基板
試験条件例：110℃/85%rh 100h、130℃/85%rh 400h※HASTチャンバーによる飽和試験や不飽和試験では、通常の温湿度さらしに比べて、短時間で事象再現する事が可能です。IEC-68-2-66やIEC749、EIAJ ED-4701等を代表とする規格に適合した試験が実施できます。
- サンプル例
- ・半導体パッケージ
- ・プリント基板
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