電気・電子

使用条件の多様化に伴う環境試験評価の重要性

電子機器の小型軽量化に対応するためプリント基板の高密度実装が推進され、電子部品の狭ピッチ化、プリント基板のファインパターン化、さらには部品と基板の一体化が急ピッチで進められています。同時に電子機器のモバイル化によりその使用条件は多様化しており、環境試験評価が重要です。
また、電子機器に使用されるプリント基板のスルーホールやはんだ接合部のクラックは、断線や接触不良の原因となり、電子機器の信頼性、安全性に大きく影響します。

エレクトロケミカルマイグレーション

プリント基板の高密度実装や消費電力の増大、電極間距離の縮小によりエレクトロケミカルマイグレーションが発生しやすい状況が増えております。エスペックでは最大2.5KV印可時の絶縁抵抗が常時モニターできる装置を保有し、基材や配線パターンの絶縁性評価をサポートいたします。

絶縁抵抗評価

接合部の信頼性評価

高密度実装によるはんだ部のマイクロ接合では、実装技術の高度化が進んでおりますが、接合部の信頼性も確保しなければなりません。
エスペックでは衝撃環境下における導体抵抗測定装置を保有し、お客様の基板設計をサポートいたします。

導体抵抗評価

ウォークインタイプの恒温（恒湿）室

デバイス評価だけでなく、システムでの機能評価が多く求められてきており、製品自体を過酷な環境にさらし、動作させるシステム評価が増加しております。
当社では大型の恒温恒湿室と3相200Vの電源をご用意し、システム評価にご対応いたします。

恒温室・恒温恒湿室
（ウォークインチャンバー）

電気・電子関連評価

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試験名称		使用試験器
低温試験・耐寒性試験		恒温槽・恒温恒湿槽大型恒温恒湿槽恒温室・恒温恒湿室高温器・乾燥器
高温試験・耐熱性試験
高温高湿（定常）試験
温湿度サイクル試験
温度サイクル試験	定速温度変化試験
	急速温度変化試験	急速温度変化チャンバー
	温度急変試験	冷熱衝撃試験器試料静止（ダンパー）方式
	温度急変試験	冷熱衝撃試験器試料移動（エレベーター）方式
	二液温度急変試験	液槽冷熱衝撃試験器
高度試験／減圧試験		恒圧恒温恒湿試験器
結露サイクル試験（湿度冷熱試験）		湿度冷熱衝撃装置
プレッシャークッカー試験（HAST試験）		高度加速寿命試験装置（HAST CHAMBER）
		中型HAST
		Air-HAST
		ワイドレンジHAST
導体抵抗評価試験		導体抵抗評価試験システム
絶縁抵抗評価試験		エレクトロケミカルマイグレーション評価システム
振動試験	正弦波試験	振動試験機・複合環境試験装置（恒温恒湿器＋振動試験機）
	正弦波試験
	ランダム波試験
	衝撃試験
複合環境試験（温湿度＋振動）
HALT/HASS試験		HALT/HASS試験装置