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コンデンサ絶縁劣化
試験システム

小型・高性能電子機器を支えている電子部品。その構造は高密度・複雑化とともに微細化の一途をたどり、小型で大容量、低ESR化をはじめ、地球環境保護にも対応した部品の開発が積極的に進められています。なかでもコンデンサはノートパソコン、携帯電話、携帯端末をはじめBluetoothなどマルチメディア機器を革新していく上で必要不可欠なキーデバイスです。その性能や安全性を確認するための信頼性試験は今後ますます欠かせないものとなっています。エスペックは、高温や高温高湿試験環境下でコンデンサの絶縁劣化特性の自動評価を可能にした「コンデンサ絶縁劣化試験システム」を開発。 このシステムは任意の高温（高湿）試験環境下においてコンデンサに電圧を印加し、絶縁破壊による漏れ電流を捉えます。絶縁破壊により漏れ電流発生の表示、故障検出と故障算出、累積ハザードによる故障解析など多彩なデータ処理、解析機能を搭載した自動計測システムです。

機器概要

特長
  • 高温、高温高湿下でコンデンサの絶縁劣化特性を自動的に評価することができます。
  • 最大300チャンネルまで増設できます。
  • 絶縁抵抗を2.0×10E+05 ～1.0×10E+13の範囲で測定することができます。（100V印加時）
  • 25チャンネル単位で試験条件を設定することができます。
  • 恒温槽の温度・湿度、故障発生数、区間故障率をリアルタイムに表示、確認できます。
  • 故障発生件数のヒストグラム、故障率曲線および累積ハザードによるデータ解析により絶縁劣化特性を評価できます。
  • ボード実装タイプ、コンタクトプローブタイプなど、各種のコンデンサ搭載治具に対応します。
構成
  • セラミックチップコンデンサおよび各種コンデンサの絶縁劣化試験

システムブロック図

詳細仕様

左右にスクロールしてご覧ください。

タイプ ストレス定電圧100V仕様 ストレス定電圧300V仕様
（オプション）		 ストレス定電圧500V仕様
（オプション）
チャネル構成 25ch～300ch／ラック
チャネル制御 5ch／25ch
ソフト ※1 Windows OS
ストレス電源部 ストレス電圧 DC 0V　DC1.0～100V DC 0V　DC1.0～300V DC 0V　DC1.0～500V
最小設定分解能 0.1V
（1.0～100V、測定電圧と独立設定可能）		 0.1V（1～200V設定時）
1.0V（200～300V設定時）		 0.1V（1～200V設定時）
1.0V（200～500V設定時）
印加電圧精度 ±（設定値の0.7％＋300mV）
測定機能 抵抗測定範囲（Ω） 2.0×10⁵～1.0×10¹³
（100V印加時）
2.0×10³～1.0×10¹¹
（1V印加時）		 6.0×10⁵～3.0×10¹³
（300V印加時）
2.0×10³～1.0×10¹¹
（1V印加時）		 1.0×10⁶～5.0×10¹³
（500V印加時）
2.0×10³～1.0×10¹¹
（1V印加時）
測定精度 10TΩ±30％（100V印加時）
測定電圧 DC 1.0～100V（0.1ステップ） DC 1.0～300V
（1.0～200V:0.1ステップ）
（200～300V:1.0ステップ）		 DC 1.0～500V
（1.0～200V:0.1ステップ）
（200～500V:1.0ステップ）
リークタッチ検出速度 常時　100μsec未満で検出
計測
ケーブル		 種類 ＋側 耐熱単線ケーブル
－側 同軸ケーブル（シールド構造）
被覆材質 テフロン（耐熱＋150℃）
長さ スキャナーユニット　―　中継ユニット間：2.5m
中継ユニットから先　　　　　　　　　　：1.5m
中継ユニット 25ch／1ユニット
＋側：メタルコネクター　－側：角型同軸コネクター
計測器 25ch～150ch　1台
175ch～300ch　2台
付属品 通信ケーブル（Ethernet）、セットアップCD、取扱説明書（1式）、メンテナンス用（10MΩ）抵抗ボックス、保証書
外法 ※2 W530×H1750×D1040mm
電源設備 AC 100V 1φ 15A
  • ※1 Windows OSバージョンの変更に伴い、（ソフトの）動作環境は変更される場合があります。現在可能なOSバージョンは確認してください。
  • ※2 突起部は含みません。

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