ESPEC Quality is more than a word

MENU

コンデンサ・インダクタ
温度特性評価システム

機器概要

「コンデンサ・インダクタ温度特性評価システム」は環境試験装置の温度ステップ制御の自動化と、コンデンサの静電容量、誘電正接(tanδ)、インピーダンスの多チャンネル測定の自動化を実現しました。これにより、任意の温度環境下での周波数特性や経時変化を自動データ収録することができます。また、コンデンサの特性評価のみならず、各種電子部品やプリント基板、絶縁材料の評価にも幅広くご利用いただけるとともに、お手持ちの環境試験装置との組み合わせにもお応えいたします。

最大64チャンネルまでの自動測定
温度・湿度環境下において静電容量、誘電正接(tanδ)、インピーダンスの多チャンネル測定が行えます。チャンネル構成は標準で8チャンネルを備え、最大64チャンネルまで増設できます。
3つの試験モードから選択
試験モードは温(湿)度特性試験をはじめ周波数特性試験、経時変化を評価できる寿命特性(定値運転)試験から選択することができます。
特長
  • 温度特性評価試験: 40ステップまでの温度変化と同期させ、特性データの自動収録を行うことができます。
  • 周波数特性評価試験: 温度・湿度環境下で、周波数を変化させながら各周波数における特性データを自動収録することができます。
  • 寿命特性(定値運転)試験: 温度・湿度環境下で、特性の時間的変化を自動にて測定、データ収録することができます。

左右にスクロールしてご覧ください。

測定方法 交流4端子対測定(計測ケーブル先端)
測定範囲
  • 測定周波数: 20Hz~1MHz
  • 静電容量(C):50pF~5mF
  • 損失係数(D):0.0001~9.9999
  • インピーダンス(Z): 10mΩ~100MΩ
測定レンジ AUTO、10Ω、100Ω、300Ω、1kΩ、
3kΩ、10kΩ、30kΩ、100kΩから選択
測定間隔 最小1分~1500分(1分ステップで変更可能)

詳細仕様

詳細仕様

左右にスクロールしてご覧ください。

型式 AMQ-008-C
測定項目 静電容量(C)、損失係数(D)、インピーダンス(Z)、
抵抗(Rs,Rp)、インダクタ(Ls,Lp)
試験項目
  • 温度特性評価試験(温度に対する変化)
  • 定値運転試験(試験時間に対する変化)
  • 周波数特性評価試験(周波数に対する変化)
チャンネル構成 標準8チャンネル、8チャンネル単位の増設で最大64チャンネル
計測制御 測定方法 交流4端子対測定(計測ケーブル先端)
測定範囲
  • 測定周波数:20Hz~1MHz
  • 静電容量(C):50pF~5mF
  • 損失係数(D):0.0001~9.9999
  • インピーダンス(Z): 10mΩ~100MΩ
測定器 LCRメータ(E4980A 4m補正オプション付)
測定レンジ AUTO、1Ω、10Ω、100Ω、300Ω、1kΩ、3kΩ、10kΩ、30kΩ、100kΩから選択
DCバイアス ±0~±40V
測定間隔 最小1分~1500分(1分ステップで変更可能)
温度ステップ数 40ステップ開始/終了温度とステップ間隔を指定する
モードと任意の温度を入力するモードから選択
周波数ステップ数 最大50ステップ(任意の値指定可能)
補正 ショート補正、オープン補正
環境試験装置制御
  • 485機能付き環境試験装置の温度、湿度制御および計測に同期させた温湿度データ取り込みが可能
計測ケーブル テフロン製同軸ケーブル4m(特性インピーダンス50Ω、95pF/m)

※測定するデータは、試料および試験条件に依存します。

オプション
  • 中継ユニット
  • 治具(チップタイプ・リードタイプ・直付タイプ)
  • 絶縁抵抗測定機能

この製品をご覧になっているお客さまへのおすすめ製品はこちら