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スタティック
バーンインシステム

  • ozone

機器概要

半導体デバイスや電子部品に温度や種々の電気ストレスを印加し、異物、汚染、入力回路劣化のある半導体デバイスの除去に効果を発揮するバーンインシステムです。

型式 対象試料 温度範囲
RBS IC、ディスクリート、その他半導体デバイス全般、各種電子部品、電子ユニットおよび基板 H:＋70～＋150℃
M:＋20～＋150℃
L:－30～＋150℃
U:－55～＋150℃
■外法（mm）
型式 W H D
0型 780 2050 1530
2型 1060 2050 1530
4型 1060 2050 1530
8型 1360 2050 1530
10型 1680 2050 1530
12型 2300 2050 1530

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