PDF1.0MB

電気・電子部品の高密度化に伴い、部品材料の高度加速寿命試験の必要性がさらに高まっています。高度加速寿命試験装置は、一定の電圧や信号を印加するバイアステストを中心に考えた機能を搭載しています。制御方法は｢不飽和制御｣｢濡れ飽和制御｣の2モードの標準タイプと｢乾湿球温度制御｣｢不飽和制御｣｢濡れ飽和制御｣の３モードを装備したＭタイプ。Ｍタイプは、国際規格IEC-60068-2-66に対応しています。また、1台の設置スペースで２倍の容量を確保できる2段積みタイプもご用意。異なる試験条件での上下同時試験や処理量の増大にも対応できます。

型式 温度・湿度・圧力範囲 内法/外法(mm) EHS-211(M) ＋105.0〜＋142.9℃/ 75〜100％RH/ 0.020〜0.196MPa (Gauge) W255×H255×L318/ W640×H1483×D850 EHS-211MD W255×H255×L318×２/ W760×H1795×D1000 EHS-221(M) W355×H355×L426/ W740×H1553×D1000 EHS-221MD W355×H355×L426×２/ W860×H1795×D1000 EHS-411(M) ＋105.0〜＋162.2℃/ 75〜100％RH/ 0.020〜0.392MPa (Gauge) W255×H255×L318/ W640×H1483×D850 EHS-411MD W255×H255×L318×２/ W760×H1795×D1000		テストエリアは、圧力に対して優れた性能を発揮する丸型の圧力容器を使用しながら、試料収納しやすい形にしました。 扉の開閉はボタン操作ひとつで簡単・安全・確実に行える扉自動締付け機構を採用。 装置に10Lの給水タンクを内蔵し、試験開始時に給水タンクから試験1回分に必要な加湿水を自動給水。 １パターンあたり30ステップ、トータル10パターンのプログラム機能を備えています。 万一のトラブルから試料を守る試料電源制御端子を標準装備。 煩雑なワイヤリング作業が不要なラックをカスタム対応でご用意。（別料金） 試料数に合わせた試料印加端子を標準で12ピン装備。（オプションで増設可能）