宇都宮試験所 保有設備
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| 試験装置名称 | 型式等 | 仕様 | 対応試験 | |||
|---|---|---|---|---|---|---|
| 温度範囲 | 湿度範囲 | その他 | テストエリア（mm） | |||
恒温恒湿器
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PL-3 | －40～＋100℃ | 20～98％rh | W600×H850×D800 | 恒温恒湿試験・低温試験・温度サイクル試験 | |
| PL-4 | －40～＋100℃（＋150℃） | 20～98％rh | W1000×H1000×D800 | |||
| PWL-4 | －40～＋100℃ | 20～98％rh | 大型観測窓 | W1000×H1000×D800 | ||
ハイパワー恒温恒湿器
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ARSF-0250-15 | －70～＋180℃ 温度変化速度：18℃/min （－45℃⇔＋155℃） |
10～98％rh | W600×H830×D500 | ||
| ARSF-0800-15 | －70～＋180℃ 温度変化速度：15℃/min （－45℃⇔＋155℃） |
10～98％rh | W1000×H980×D800 | |||
| ARS-1100-5 | －70～＋180℃ 温度変化速度：6℃/min （－45℃⇔＋155℃） |
10～98％rh | W1100×H1000×D1000 | |||
| ARS-1100-10 | －70～＋180℃ 温度変化速度：10℃/min （－45℃⇔＋155℃） |
10～98％rh | W1100×H1000×D1000 | |||
急速温度変化チャンバー
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TCC-150W | －70～＋180℃ 温度変化速度： 23℃/min（－45℃⇒＋155℃） 18℃/min（＋155℃⇒－45℃） |
ー | W800×H500×D400 | 急速温度変化試験 | |
| TCC-151W | －70～＋180℃ 温度変化速度： 23℃/min（－45℃⇒＋155℃） 20℃/min（＋150℃⇒－55℃） |
ー | JEDEC/IPC規格対応 20℃/min制御 |
W800×H500×D400 | ||
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高度加速寿命試験器 （HAST） 
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EHS-411M | ＋105～+162.2℃ | 75～100％rh | 圧力範囲：0.020～0.392MPa（Gauge） 3制御モード（不飽和制御・濡れ飽和制御・乾湿球温度制御） |
W255×H255×D318 | プレッシャークッカー試験（HAST試験） |
中型恒温恒湿器
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SMS-2 | －70～+180℃ | 20～98%rh | W1200×H1000×D1500 | 恒温恒湿試験・低温試験・温度サイクル試験 | |
恒温恒湿室
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TBL-6 | －30～＋100℃ | 10～95％rh | W4000×H3000×D2950 | ||
| TBE-6 | －40～＋120℃ | 10～95％rh | W4000×H3000×D2950 | |||
| TBE-6 | －40～＋120℃ | 10～95％rh | W4000×H2600×D2950 | |||
恒圧恒温槽
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L-9 | －60～＋100℃ | ー | 圧力範囲：101.3kPa（大気圧）～0.1kPa （高度150,000ft相当） | W1800×H1800×D2800 | 高度試験・減圧試験・加圧試験 |
冷熱衝撃装置（試料静止型）
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TSA-203ES | 高温：＋60～＋200℃ 低温：－70～0℃ |
ー | W650×H460×D670 | 冷熱衝撃試験（気槽式） | |
| TSA-303EL | 高温：外囲温度＋50～＋200℃ 低温：－65～0℃ |
ー | W970×H460×D670 | |||
冷熱衝撃装置（昇降式）
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TSD-101 | 高温：＋60～＋205℃ 低温：－77～0℃ |
ー | W710×H345×D410 | ||
充放電専用恒温器
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BTC-655Hb | －40～＋100℃ | ー | 水平方向気流 | W1100×H850×D700 | リチウムイオン二次電池充放電試験 |
| BTC-655Vb | －40～＋100℃ | ー | 垂直方向気流 | W1100×H850×D700 | ||
エレクトロケミカルマイグレーション評価システム
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AMI-150-U-5 (500V仕様) |
チャネル数：150ch 抵抗測定範囲：1.0×10⁶～5.0×10¹³Ω以上 （500V印加時）、2.0×10³～1.0×10¹¹Ω以上 （1V印加時） 印可電圧：DC1.0 ～500V |
ー | 絶縁抵抗評価（エレクトロケミカルマイグレーション評価） | ||
導体抵抗評価システム
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AMR-280-UD （直流電流計測方式） |
チャネル数：280ch 抵抗測定範囲：1mΩ～100MΩ 測定間隔：40チャネル12秒以内（100ｍΩの場合） 測定レンジ： 10mΩ、100mΩ、1Ω、10Ω、100Ω、1kΩ、10kΩ、100kΩ、1MΩ、10MΩ、100MΩ、Auto |
ー | 導体抵抗評価試験 | ||