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計測システム コンデンサ絶縁劣化試験システム

小型・高性能電子機器を支えている電子部品。その構造は高密度・複雑化とともに微細化の一途をたどり、小型で大容量、低ESR化をはじめ、 地球環境保護にも対応した部品の開発が積極的に進められています。 なかでもコンデンサはノートパソコン、携帯電話、携帯端末をはじめBlue Toothなどマルチメディア機器を革新していく上で必要不可欠なキーデバイスです。 その性能や安全性を確認するための信頼性試験は今後ますます欠かせないものとなっています。 エスペックは、高温や高温高湿試験環境下でコンデンサの絶縁劣化特性の自動評価を可能にした「コンデンサ絶縁劣化試験システム」を開発。 このシステムは任意の高温(高湿)試験環境下においてコンデンサに電圧を印加し、絶縁抵抗の変化を計測、データ収録・解析することができます。 絶縁劣化特性のリアルタイム表示、故障検出と故障算出、累積ハザードによる故障解析など多彩なデータ処理、解析機能を搭載した自動計測システムです。

概要 詳細機能
 

特長

  • 高温、高温高湿下でコンデンサの絶縁劣化特性を自動的に評価することができます。

  • 標準500チャンネル、最大1,000チャンネルまで増設できます。

  • 絶縁抵抗を10kΩ〜100MΩの範囲で測定することができます。絶縁抵抗測定時、ストレス電圧が0Vになることはありません。

  • 25チャンネル単位で試験条件を設定することができます(印加電圧値は100チャンネルごと)。

  • 高温槽の温度・湿度、故障発生数、区間故障率、絶縁抵抗値、絶縁劣化特性グラフをリアルタイムに表示、確認できます。

  • 故障発生件数のヒストグラム、故障率曲線および累積ハザードによるデータ解析により絶縁劣化特性を評価できます。

  • ボード実装タイプ、コンタクトプローブタイプなど、各種のコンデンサ搭載治具に対応します。

特長

  • セラミックチップコンデンサおよび各種コンデンサの絶縁劣化試験

 
 

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