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計測システム
イオンマイグレーション評価システム(AMIシリーズ)
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概要 詳細機能 オプション
     
 
連続測定により絶縁抵抗値の変化を高精度に検知

高温高湿環境下で電圧を印加しながら、絶縁抵抗値の連続測定が行え、絶縁抵抗の低下をより高精度に検知します。

環境試験器と一体化したシステム

環境試験器のトラブル発生時のストレス電圧遮断や、結露発生による試験への影響を回避するなど、環境と連動したシステム制御により、試験開始、中断、終了など環境試験器と同期した試験を行うことができます。

リーク電流検出にすぐれたリークタッチ検出機能

イオンマイグレーションの発生をμSEC オーダで検出するリークタッチ検出機能を備 え、リークタッチ検出時には即座に電界ストレスを発生したチャンネルのみ遮断します。またリークタッチ検出後も試験継続の選択が行えます。(オプション)

広範囲の絶縁抵抗値を高精度で測定

計測ケーブル(3m)の先端で2×103〜3×1013Ωの広い範囲で絶縁抵抗を高精度に測定します。(オポジットポラリティモデル絶縁抵抗範囲:1×106〜3×1013Ω)

安定したストレス電圧印加

1チャンネル1電源方式(スタンダードモデル)、保護抵抗方式(オポジットポラリティモデル)にてストレス電圧を印加。1つのサンプルがショートしたとしても、他のサンプルの印加電圧には影響ありません。また電圧モニタ機能搭載し正確に電圧印加されていることを確認します。

無電圧時間がありません

独自のスキャナー動作技術により、スキャナー切り替え時の無電圧状態は発生しません。

地球環境問題に配慮

鉛フリーはんだによる実装を採用(パソコン、計測器などの購入品は除く)また消費電力の24%ダウン(従来品)など、地球環境負荷低減に配慮しています。

用途
  • イオンマイグレーション評価
  • 絶縁劣化特性評価
  • フラット、プリント基板、レジスト、はんだ、樹脂、導電性接着剤などプリント配線板・高密度実装に関する材料
  • BGA、CSPなどファインピッチパターンICパッケージ
  • PDP
  • コンデンサ、コネクタ他電子部品や材料
  • 各種絶縁材料の吸湿特性評価

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