车载传感器老化试验

对传感器实施劣点筛除的老化装置

我们推荐合适的老化装置,
对作为重要零部件的传感器实施劣点筛除。

随着自动驾驶和ADAS(高级驾驶辅助系统)的发展,发挥着安全作用的传感器变得愈加重要。汽车上搭载的传感器种类多样,如检视人和车道线的检测传感器、油门踏板传感器、动力转向传感器等。在高温下输入信号,激活传感器,监控输出,并判定是否合格。

试验类别

  • 高温劣点筛除试验
  • 低温试验

试验目标设备

  • 油门踏板传感器
  • 动力转向传感器
  • CMOS传感器

相关的关键词

  • ADAS
  • 传感器
  • 老化

POINT 01高效的劣点筛除

  • 所有通道分别监控来自车载传感器的输出电压,判定是否合格。
  • 可同步温度程序和试验条件,同时进行试验。

POINT 02自动插拔机构

配备自动插拔机构,可批量插入多个老化板的卡片端连接器,提高老化试验的效率。

规格

项目 主要的规格
(因分别对应不同产品,仅提供参考值)
老化
系统部
加载电压 +5.5~+7.0V
加载电压精度 ±0.1 V以内
加载电压设定 传感器驱动电压
设备输出监视器 比较电压+0.45~+5.0V
(初期引进时用微调器实施微调设定后固定)
输出监视器电路 每个插槽可监控多达300个设备输出
试验箱部 控制温度范围 +70~+150℃
温度分布 ±3℃ (有负荷 最大可达600W) ※1
升温时间 +40⇒+125℃ 60分钟以内(无试样 无负荷状态)
插槽规格 48个插槽(搭载设备数 最大14400个)

※1:对于温度控制范围、温度分布宽度等,条件因客户设备而异,所以仅作为参考规格。