车载传感器老化试验
对传感器实施劣点筛除的老化装置
我们推荐合适的老化装置,
对作为重要零部件的传感器实施劣点筛除。
随着自动驾驶和ADAS(高级驾驶辅助系统)的发展,发挥着安全作用的传感器变得愈加重要。汽车上搭载的传感器种类多样,如检视人和车道线的检测传感器、油门踏板传感器、动力转向传感器等。在高温下输入信号,激活传感器,监控输出,并判定是否合格。
试验类别
- 高温劣点筛除试验
- 低温试验
试验目标设备
- 油门踏板传感器
- 动力转向传感器
- CMOS传感器
相关的关键词
- ADAS
- 传感器
- 老化
POINT 01高效的劣点筛除
POINT 02自动插拔机构
配备自动插拔机构,可批量插入多个老化板的卡片端连接器,提高老化试验的效率。

规格
项目 | 主要的规格 (因分别对应不同产品,仅提供参考值) |
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老化 系统部 |
加载电压 | +5.5~+7.0V |
加载电压精度 | ±0.1 V以内 | |
加载电压设定 | 传感器驱动电压 | |
设备输出监视器 | 比较电压+0.45~+5.0V (初期引进时用微调器实施微调设定后固定) |
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输出监视器电路 | 每个插槽可监控多达300个设备输出 | |
试验箱部 | 控制温度范围 | +70~+150℃ |
温度分布 | ±3℃ (有负荷 最大可达600W) ※1 | |
升温时间 | +40⇒+125℃ 60分钟以内(无试样 无负荷状态) | |
插槽规格 | 48个插槽(搭载设备数 最大14400个) |
※1:对于温度控制范围、温度分布宽度等,条件因客户设备而异,所以仅作为参考规格。