半導体特性評価システム_AMM-2000

高精度な測定・評価により、信頼性を追求「半導体パラメトリック評価システム」。ウェーハの大口径化、微細化・高集積化により信頼性評価の重要性も飛躍的に高まってきています。エスペックの「半導体パラメトリック評価システム」は、パッケージレベルからウェーハレベルまでを、高精度な電圧・電流印加とFET単体トランジスタの電気的特性および継続的変化を測定し、故障原因の解明に重要な役割を果たします。


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共通ソフトウェア仕様●システムプログラム(試験管理ソフトウェア)1.ウェーハマップとプローブカードの設定を自由に管理できます。2.試験設定は、測定プログラムに合わせて条件を入力し3.試験の稼働状態は、ウェーハマップ上にて表示され、状保存管理できます。態は色判別が可能です。●統計解析ソフトウェア収集したデータを試験終了したウェーハマップから呼び出し、データをロードすることができます。個別データもエクスプローラー上からドラッグアンドドロップにて簡単表示できます。一次データはもちろん、グラフの作成も簡単に表示します。〈試験管理〉●測定パラメーター設定●試験条件設定●稼働状況画面●試験中〈統計処理〉●ワイブル確率紙●マップデータ表示●一次データ表示とステップデータ●その他の統計表示プロット●ゲート電圧—時間特性●電界強度—時間特性●破壊までの注入荷重ヒストグラムウェーハマップワイブルプロット●破壊の起こった電界強度ヒストグラムウェーハマップワイブルプロット●ゲート電流—電圧特性●電流密度—電界強度特性●破壊電界強度ヒストグラムウェーハマップワイブルプロットFowler-Nordheimプロットなど9


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