案例介绍

• 介电常数温度依存性评估试验设备
  点冷却加热装置+电波穿透盒＜S参数法（自由空间法）＞
  • 由于可只调节试样周边的温度，天线能够以常温状态做试验。
  • 直接将调节了温度的空气吹向试样，实现快速的温度变化。

  

  型号	MTA-171 前端加热器类型（新）	MTA-171 背部加热器类型
  吹出温度控制范围 （吹出温度设置范围）	-40℃～+180℃（-60℃～+200℃）
  温度变化速度 （升温：-29℃⇒+169℃） （降温：+169℃⇒-29℃）	100℃／分钟	10℃／分钟
  压缩空气源(0.55～1.0MPa) ※露点温度‐60℃以下、 空气温度30℃以下	140～200NL/min
  选购件	吹出温度控制范围扩大 （-40℃～＋250℃）	－

• 介电常数温度依存性评估试验设备　小型环境试验箱＜分体圆柱谐振腔法＞
  • 连同设置了试样的分体圆柱谐振腔在内，可设置在槽内，以节约场地的方式构建试验环境。
  • 即使是受湿度影响的试样，选择带湿度的类型，也能够在温湿度环境下实施介电常数测量。

  型号	SH／SU-262　　SH／SU-662
  温度范围	-60～+150℃（可控制的温度范围）
  温度变化速度	升温速度2.9℃／分钟、降温速度1.7℃／分钟 （温度范围-39～+129℃）　※参考值

  

案例介绍

• 绝缘可靠性评估试验设备　绝缘电阻/漏电流试验设备
  • 通过高温高湿环境和通电加快绝缘不良，通过测量电阻值变化评估绝缘劣化。
  • 自动检测瞬间发生的短路、短路与复位的反复（漏电接触测出判定）方式的自动化。
  • 与恒温箱联动，按预先设定的条件自动测定。
  • 通过独有的扫描方式，自动实施多个试品的测定。

  型号	AMI-U
  测定通道数	150个通道/试样架(100V/300V/500V/1000V/2500V) 300个通道/试样架(100V/300V/500V) ※非标可对应扩展
  测定范围	2×105～1×1013Ω(施加100V时) 2×103~1×1011Ω(施加1V时)
  电压施加范围	100V／300V／500V／1000V／2500V
  可联动的 本公司恒温箱	・高速老化试验箱 HAST试验箱 ・恒温恒湿箱 Platinous J系列 ・高功率恒温恒湿箱 AR系列 ・小型环境试验箱

  

  
• 绝缘可靠性评估试验设备　高速老化试验箱 HAST试验箱
  • 试验箱两层叠放，节省空间。
  • 上下可分别设定不同的温湿度条件
    （EHS-212MD/222MD/412MD）。
  • 作为选购件，准备有滑轨搁板式端子台，能够通过槽外配线设置在槽内，节省配线作业。
  • 还有最适合大型试样、小型试样的大量试验的大型设备。

  

  型号	EHS-212／222／412（M／MD）	EHS-432／432L
  温湿度范围	212／222 温度　+105～+142.9℃ 湿度　75～100%rh 412 温度　+105～+162.2℃ 湿度　75～100%rh	湿度　75～100%rh 湿度　75～100%rh
  内尺寸	212／412 Φ294×D318　※(296)mm 222 Φ394×D426　※(404)mm ※（ ）不含风扇保护罩突起的尺寸	432 Φ548×D560 mm 432-L Φ560×D760 mm