スタティックバーンインシステム RBS（Japanese）
スタティックバーンインシステムからクロックバーンインシステムへの拡張性を備えて。半導体デバイスの信頼性試験や初期段階における故障を除去するスクリーニング法のひとつとして、ますます重要性が高まるバーンイン。スタティックバーンインは、半導体デバイスやアセンブリされた電子機器に温度や種々の電気的ストレスを加え、表面汚染や入力回路劣化のある初期故障品の除去に効果を発揮します。スタティックバーンインシステムは、新しく発熱負荷時の温度分布性能の向上、自動化への対応、さらに省エネルギー化をはじめ、フロン規制への対応やリサイクルに配慮したスタイルでお届けいたします。
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