コンデンサ温度特性評価システム(誘電特性評価システム) AMQ(Japanese)

温度、周波数特性に対するコンデンサのパラメーターを自動収録。効率よくデータ収集するための多チャンネル化に加え、環境試験装置と計測・評価システムの連動により、自動化を実現した「コンデンサ温度特性評価システム」です。


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特長小型超低温恒温器との接続例接続用治具:SMD部品専用治具(オプション)用途●コンデンサ全般●静電容量(C)●損失係数(D)●インピーダンス(Z)の温度特性●周波数特性●各種電子材料●プリント基板●フラックス●絶縁材料(樹脂、フィルムなど)●各種誘電体材料(チタン、セラミック、タンタル、アルミ電解など)3『本装置は、コンデンサや各種材料が持つ「静電容量(C)」、「損失係数(D)」、「インピーダンス(Z)」を任意の温度環境下において評価することができるシステムです。』最大64チャネルまでの自動測定温度環境下において静電容量(C)、損失係数(D)、インピーダンス(Z)の多チャネル測定が行えます。チャネル構成は標準で8チャネルを備え、最大64チャネルまで増設できます。測定結果をリアルタイムに確認できるグラフ機能収録したデータは多彩なグラフ機能により、温度・周波数・時間に対する各電気特性値および変化率をリアルタイムに確認いただけます。さまざまな試験モードから選択試験モードは温度特性試験をはじめ定値運転試験、周波数特性試験から選択できます。〈温度特性評価試験〉40ステップまでの温度変化と同期させ、特性データを自動的に収録することができます。〈定値運転試験〉温度環境下で、特性の時間的変化を計測し、自動でデータ収録しが可能。〈周波数特性評価試験〉温度環境下で、周波数を変化させながら各周波数における特性データを自動収録します。温度特性評価試験・定値運転試験と併用した試験を行うことができます。


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