導体抵抗評価システム AMR-U(Japanese)

はんだ接合部やコネクタ接合部の微小抵抗値を連続して測定。接続部分の信頼性を効率よく評価します。エスペックの「導体抵抗評価システム」は、低温・高温の温度サイクル環境下において、はんだ接合部やコネクタ接続部の導体部分の微小抵抗値を連続測定します。コンピューターによる自動計測、データ収録およびデータ処理のシステム化を実現し、接続信頼性評価をより正確に効率よく行えます。


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Evaluation接合部の導体抵抗の微小な変化をより正確に捉える2種の故障判定絶対値による故障判定任意の測定間隔で測定される測定データに対して設定された絶対値で判定を行い、接合部のオープンを確実に検出できます。チャンバーと連動した場合、高温・低温それぞれ独立して絶対値を設定でき、試料の周囲温度に合わせた判定が可能です。また、故障と判定されたチャネルの測定を終了することができます。(故障判定後に測定を継続する設定も可能)変化率による故障判定BGA(BallGridArray)やCSP(ChipSizePackage)などの微小な抵抗の変化を捉える判定方法です。指定された基準測定データに対して、高温時・低温時の測定データを比較換算した変化率で判定を行います。試験規格対応IPC-9701で規定された初期値からの20%の変化率判定が可能です。絶対値判定上限絶対値下限絶対値・測定されたデータに対して絶対値で判定を行います。終了判定値として認識■絶対値設定上限値(Ω)下限値(Ω)変化率判定高温変化率低温変化率・測定されたデータに対して変化率で判定を行います。■変化率設定変化率の基準値として認識高温側低温側上限値(Ω)下限値(Ω)上限値(Ω)下限値(Ω)判定待ち時間安定時間安定時間判定待ち時間8


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