導体抵抗評価システム AMR-U（Japanese）

はんだ接合部やコネクタ接合部の微小抵抗値を連続して測定。接続部分の信頼性を効率よく評価します。エスペックの「導体抵抗評価システム」は、低温・高温の温度サイクル環境下において、はんだ接合部やコネクタ接続部の導体部分の微小抵抗値を連続測定します。コンピューターによる自動計測、データ収録およびデータ処理のシステム化を実現し、接続信頼性評価をより正確に効率よく行えます。

Performance国際標準にトレーサブルな計測器を採用することにより高精度の測定を実現電流計測方式による2機種ラインアップ●直流電流計測(DC印加仕様)抵抗測定範囲:1mΩ〜100MΩ●交流電流計測(AC印加仕様)抵抗測定範囲:1mΩ〜3kΩ信頼性の追求国際標準にトレーサブルな計測器・微小抵抗計を搭載し、測定データへの信頼性を追及しました。ご要望に応じ精度を維持するための校正サービスもご提供いたします。(ISO/IEC17025適合)1×10-3から1×108Ωの広範囲測定を実現4端子測定方法により、ケーブル先端で1×10-3〜1×108Ω(DC印加仕様)、1×10-3〜3×103Ω(AC印加仕様)の広範囲な導体抵抗値を高精度に測定します。多チャネル連続測定により作業効率の大幅な向上標準装備の40chより40ch単位で最大280chまで増設可能です。試験の目的や接続するチャンバーの台数などに合わせて選定いただけます。BGA実装基板AMR4