導体抵抗評価システム AMR-U（Japanese）

はんだ接合部やコネクタ接合部の微小抵抗値を連続して測定。接続部分の信頼性を効率よく評価します。エスペックの「導体抵抗評価システム」は、低温・高温の温度サイクル環境下において、はんだ接合部やコネクタ接続部の導体部分の微小抵抗値を連続測定します。コンピューターによる自動計測、データ収録およびデータ処理のシステム化を実現し、接続信頼性評価をより正確に効率よく行えます。

AMR導体抵抗評価システム半導体パッケージや電子部品の接合部に発生する微小なクラックを正確に捉え、自動測定とチャンバー連動により試験スケジュール管理の効率性を向上主な特長●独自のマルチスキャン方式と国際標準対応の計測器を搭載。●直流電流計測と交流電流計測の2タイプ。●絶対値判定方法・変化率判定方法の2種の故障判定が可能。●パソコンでリアルタイム測定。測定中においても、データ編集・閲覧が可能。●冷熱衝撃装置との連動により試験効率を大幅に向上。評価対象●プリント基板●半導体のアンダーフィル主な用途●プリント基板スルーホール導体評価●はんだ接続性評価●BGA、CSPはんだ接続性評価●コネクタ接触抵抗評価●FPC耐久性評価●スイッチ、リレーなど各種接触抵抗評価●異種金属の接合部評価●導電性接着剤、異方性導電膜(ACF)接合性評価●各種接続材料の接続性評価●はんだクラックの進行の変化正常な状態クラック発生完全破断冷熱衝撃装置との設置例「電子機器の変化と接合信頼性評価」https://youtu.be/U7_BDtz4j0w※音声あり3