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導体抵抗評価システムコンデンサ温度特性評価システム(誘電特性評価システム)(写真はシステム例)(写真はシステム例)プリント基板のスルーホールやはんだ接続部のクラックは、断線や接触不良の原因となり、電子機器の信頼性に大きく影響します。クラックの原因としては接続方法・はんだの材質・フラックス活性剤の種類・洗浄方法などの内的因子のほか、温度や湿度などの外的因子も影響します。導体抵抗評価システムは冷熱衝撃装置と連動させることにより、クラックの発生を導体抵抗の変化から検知。コネクター、スイッチリレー等の接触部の試験にもご利用いただけます。搭載。●独自のマルチスキャン方式と国際標準対応の計測器を●絶対値あるいは変化率による故障判定が可能。●パソコンでリアルタイム測定。測定中においても、データ編集・閲覧が可能。コンデンサを中心にプリント基板、絶縁材料など各種電子材料の静電容量、tanδ、インピダンスの温(湿)度特性、周波数特性、経時変化を自動計測できます。■AMQ測定方法測定間隔測定範囲測定レンジ::::交流4端子対測定(計測ケーブル先端)最小1分〜1500分(定値運転時)測定周波数静電容量(C)損失係数(D)インピーダンス(Z)10Ω、100Ω、300Ω、1kΩ、3kΩ、10kΩ、30kΩ、100kΩ、AUTO20Hz〜1MHz50pF〜5mF0.0001〜9.999910mΩ〜100MΩ■AMR-U測定電流チャネル構成抵抗測定範囲直流電流計測(DC印加仕様)::40ch〜280ch/ラック:1×10-3Ω〜1×108Ω1mΩ〜100MΩ交流電流計測(AC印加仕様)1×10-3Ω〜3×103Ω1mΩ〜3kΩ32
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