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エレクトロケミカルマイグレーション評価システム(イオンマイグレーション)絶縁抵抗/漏れ電流測定装置(写真はシステム例)電子機器の微細化、高密度化により、エレクトロケミカルマイグレーション評価、絶縁評価の必要性が高まっています。エレクトロケミカルマイグレーション評価システムは、試料を高温高湿環境にさらしながら、エレクトロケミカルマイグレーションにともなうリーク電流や絶縁抵抗値の低下を自動的に検出します。●国際標準対応の計測器による高精度な測定。●ストレス定電圧(ストレス電圧、測定電圧)は、100V仕様と、オプションの300V、500V仕様。●1000V、2500Vの高電圧仕様にも対応します。●独自の瞬断検出回路により、瞬時のマイグレーション現象を検知●コンデンサー絶縁劣化特性の自動評価が可能です。各種対応治具もご用意しています。■AMI-U<ストレス定電圧100仕様>チャネル構成チャネル制御抵抗測定範囲25ch〜300ch/ラック25ch::5ch:2×105Ω〜1×1013Ω(100V印加時)2×103Ω〜1×1011Ω(1V印加時)計測評価システム・半導体関連装置31
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