半導体ウェハー・
アセンブリ
電子デバイスを支える信頼性評価
絶縁抵抗評価、接合抵抗評価やバーンイン試験で必要な温度分布の良い恒温槽、測定治具、電源、計測器と多チャネル同時測定を可能にする計測システムをセットで提供します。
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