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疲労寿命は、ひずみ速度、ひずみ波形に依存します。温度サイクル槽においては、ひずみ速度は、温度変化速度によって変わり、ひずみ波形は、温度上昇/下降時の試料温度変化波形の対称性に左右されます。再現性の高いランプ制御TCCの試料温度ランプ運転では、温度上昇、下降時のランプレートを制御し、ひずみ波形を対称的にすることができます。また、試料の量が変わっても、毎回同じランプレートで試験を行え、ひずみ速度を一定に保ちます。非常に再現性の高い試験を行うことができます。JESD22-A104Fの規格試験に対応試料温度ランプレート15℃/分以下(-40～+125℃)の規格試験を、簡単で正確に行うことができます。自動車試験規格、はんだ接合部の寿命評価、半導体デバイス、半導体パッケージの信頼性評価に最適です。代表的な試験規格:IEC60749-25JESD22-A104F槽内温度差を最小限に抑え、試料へ均一な温度負荷を与えます3種類の運転モードステップ毎に温度・時間を設定するプログラム運転、高温と低温を往復させるサイクル運転と、一定温度の定値運転が可能です。JEDEC規格に対応、正確な寿命評価試験に●試料温度ランプ制御(例)■試料温度制御データ設定温度試料温度ランプ制御保証範囲05101520253035404550時間(分)1401251006020温度(℃)-20-40-60特長試験条件高温ソーク:+130℃低温ソーク:-45℃ランプレート:15℃/min.測定方法試料カゴ2段にそれぞれ45枚2列に基板をセットし、制御点の試料表面に熱電対を貼り付け。制御点:下段手前中央の基板試料:ガラスエポキシ基板145×130mm90枚1020304050時間(分)120100806040200温度(℃)-20-40-600●温度変化中の分布性能(例)■温度変化中の分布データ140■測定12ポイントの温度変化速度(アベレージ)2520151050温度変化速度(℃/min.)※IEC60068-3-5:2001に準拠温度上昇時13.9〜15.1℃/min.温度下降時14.9〜15.4℃/min.123456789101112測定(ポイント)試験条件高温ソーク:+125℃低温ソーク:-40℃ランプレート:15℃/min.制御点:吹出センサー試料ガラスエポキシ基板145×130mm90枚:測定方法右図の12ポイントの試料に熱電対を貼り付け。3⑥⑫⑤⑪②⑧③⑨④⑩①⑦
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