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ミクロンからサブミクロンへBurn-inChamberが追求する極限への信頼性ミクロンからサブミクロンへと集積度が高まる半導体デバイス。その信頼性への追求はデバイス開発と共に飛躍的に進んでいます。今や世界の半導体検査分野において認められたエスペックのBurn-inChamber。発熱負荷時の温度分布性能の向上、自動化への対応、幅広い器種バリエーション、さらに省エネルギー化をはじめフロン規制への対応、リサイクルを配慮した設計など「環境Friendly」にお応えしたBurn-inChamberをお届けいたします。1