モニタードバーンインシステム MBI(Japanese)

SoCの評価から量産ラインまで、最適なバーンインシステムソリューション。モニタードバーンインシステムMBIは、ATEとテスト内容を最適にシェアすることにより、テストコストをトータルで削減できるなど、スケーラビリティーの高いバーンインシステムです。数多くの実績から受け継いだユーザーインターフェースは、各種メモリとロジックに対して必要なテストパターンを容易に作成でき、高い生産性をご提供します。また、パターンジェネレータ・ドライバ・チャンバーはそれぞれモジュール化しており、信頼性試験からスクリーニングまで、幅広く最適なテスト環境に対応します。


>> P.3

●ドライバチャンネルチャンネル数Tr/TfVIH/分解能VIL出力電流容量出力インピーダンスドライブ/HI-Z設定I/Oチャンネル設定●DUT電源PS1PS248ch50nS/5V/1,000pf負荷/500kHz1.0〜15.0V/0.1V0.4V以下固定200mA(AC)10Ω以下個々にソフトウェアで指定個々にソフトウェアで指定R/Wクロックにてコントロール+1.0〜+10.0V/16A+1.0〜+15.0V/5APS3(オプション)+1.0〜+15.0V/5A,-1.0〜-15.0V/5AVIH1VIH2(オプション)パワーシーケンスモニタ●コンパレータチャンネル数VCH/分解能VCL/分解能+1.0〜+15.0V/5A+1.0〜+15.0V/5Aプログラム可能PS電圧モニタ・PS電流モニタ48ch0.5〜12.0V/0.1V仕様●パターンジェネレータクロックジェネレータサイクルタイムクロックディレイ/パルス巾マルチクロック数コンパレータストローブクロック相数フォーマッタ200nS〜51.15μS/50nS0nS〜51.15μS/50nS2〜2550nS〜5.15μS/50nS8/ユーザ使用個々に反転指定可能オンザフライタイミングセット32クロックジェネレータアドレスレジスタフォーマッタメモリパターンジェネレータパターンの種類X=16bit、Y=16bitアドレスマルチプレックスMemoryScan,RowBar,ColumnBar,Checkerboad,March,Diagonal等ベクタジェネレータベクタメモリの深さリピートループカウンタ深さループカウンタ数無条件ジャンプフォーマッタCSジェネレータ信号数フォーマッタピンスクランブルクロックアドレスデータCS2MW同一ベクタを繰り返し発生、1〜65,535回2〜65,535回3可能RZ,NRZ,反転28RZ,NRZと反転の指定を一括8相のクロック信号を任意のドライバチャンネルに出力可能32chのアドレス信号を任意のドライバチャンネルに出力可能4種のデータ信号を任意のドライバチャンネルに出力可能28chのCS信号を任意のドライバチャンネルに出力可能ベクタデータ64chのベクタデータ信号を任意のドライバチャンネルに出力可能オプション● ネットワークシステム● VHH信号出力


<< | < | > | >>