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SoCの評価から量産ラインまで、最適なバーンインシステムソリューションモニタードバーンインシステムMBIは、ATEとテスト内容を最適にシェアすることにより、テストコストをトータルで削減できるなど、スケーラビリティーの高いバーンインシステムです。数多くの実績から受け継いだユーザーインタフェースは、各種メモリとロジックに対して必要なテストパターンを容易に作成でき、高い生産性をご提供します。またパターンジェネレータ・ドライバ・チャンバーはそれぞれモジュール化しており、信頼性試験からスクリーニングまで、幅広く最適なテスト環境に対応します。特長モバイル用には低電圧タイプ電源と信号出力、ハイパワーデバイス用ではリーク電流増加に対応する冷却機能と大電流の電源、そして車載半導体に求められる低温から高温までの温度環境など、幅広い用途に対応しています。パターンジェネレータは、フラッシュメモリや各種DRAMとロジックの試験が可能なパターンを発生することができます。ドライバの出力信号を自由に切り替えられる、ピンスクランブル機能を搭載しています。(一部対応できないものもあります。)信号電圧は、VH1とVH2の2つの電圧を同時に印加することができます。ベクタエディタで、BIST・JTAG(IEEE1449)・バウンダリースキャンなど、多彩なテストパターンの作成ができます。システムは最大8台まで集中監視することが可能で、バーンイン工程やテストパターンのトータル管理が可能です。バーンインボードの自動挿入・抜去や、自動スライド扉により省力化が可能です。システム付属のタッチパネルで、テストパターンの選択やテスト条件の設定が可能です。計装
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