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エレクトロケミカルマイグレーション評価システム(イオンマイグレーション)絶縁抵抗/漏れ電流測定装置導体抵抗評価システム(写真はシステム例)(写真はシステム例)電子機器の微細化、高密度化により、エレクトロケミカルマイグレーション評価、絶縁評価の必要性が高まっています。エレクトロケミカルマイグレーション評価システムは、試料を高温高湿環境にさらしながら、エレクトロケミカルマイグレーションにともなうリーク電流や絶縁抵抗値の低下を自動的に検出します。●国際標準対応の計測器による高精度な測定。●ストレス定電圧(ストレス電圧、測定電圧)は、100V仕様と、オプションの300V、500V仕様。●1000V、2500Vの高電圧仕様にも対応します。●独自の瞬断検出回路により、瞬時のマイグレーション現象を検知●コンデンサー絶縁劣化特性の自動評価が可能です。各種対応治具もご用意しています。■AMI-U<ストレス定電圧100仕様>チャネル構成チャネル制御抵抗測定範囲25ch〜300ch/ラック::5ch:2×105Ω〜1×1013Ω(100V印加時)2×103Ω〜1×1011Ω(1V印加時)25chプリント基板のスルーホールやはんだ接続部のクラックは、断線や接触不良の原因となり、電子機器の信頼性に大きく影響します。クラックの原因としては接続方法・はんだの材質・フラックス活性剤の種類・洗浄方法などの内的因子のほか、温度や湿度などの外的因子も影響します。導体抵抗評価システムは冷熱衝撃装置と連動させることにより、クラックの発生を導体抵抗の変化から検知。コネクター、スイッチリレー等の接触部の試験にもご利用いただけます。搭載。●独自のマルチスキャン方式と国際標準対応の計測器を●絶対値あるいは変化率による故障判定が可能。●パソコンでリアルタイム測定。測定中においても、データ編集・閲覧が可能。■AMR-U測定電流チャネル構成抵抗測定範囲直流電流計測(DC印加仕様)::40ch〜280ch/ラック:1×10-3Ω〜1×108Ω1mΩ〜100MΩ交流電流計測(AC印加仕様)1×10-3Ω〜3×103Ω1mΩ〜3kΩ28
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