condenser_measurement_system_j

評価項目16AMQコンデンサ・インダクタ温度特性評価システム電圧印加タイミングの違い●=測定タイミングAMQ電圧(V)40V測定時のみ電圧印加AMQ+DCバイアス電圧(V)常時電圧印加された状態での測定が可能40V0V時間0V時間評価項目358HASTチャンバーAMIプラスコモン仕様標準AMI72ピン使用試験数36サンプル25chプラスコモン72ピン使用試験数69サンプルサンプルサンプルスキャナ基板Aスキャナ基板A評価項目5361測定用治具8チップコンデンサ用治具金めっき部分にチップコンデンサを挟みこんで使用します。片側にはバネがついており様々なサイズのサンプルにアジャストできます。チップクリップ治具クリップの先端部でチップコンデンサを挟み込んで使用します。ラジアル用治具ラジアル型コンデンサ向けの治具。リード部分を電極で挟み込んで使用します。DCバイアス印加カスタマイズAMQ(コンデンサ・インダクタ温度特性評価システム)にDCバイアス電源を追加します。常に電圧を印加することで、サンプルの劣化を加速させます。さらに、各種パラメータを継続して記録することで時系列に沿った評価が行えます。印加電圧:0V〜40V※40V以上の場合はご相談ください。カスタマイズAMIは基本的に1つのチャネルに1電源となっていますが、複数チャネルの電源を共通化することで、ピン数の限られるHASTチャンバーと接続する際に少ないピン数で多くのチャネルを評価することが可能です。カスタマイズエスペックでは恒温槽やシステムのほかに、サンプルを接合する測定用治具の製作も行っております。お客様のサンプル形状に合わせたカスタマイズ品の製作も可能です。測定用治具を使用することではんだ付けの手間やケーブルの消耗を無くすことができ、より簡単にサンプルの取り付けが行えます。