導体抵抗評価システム AMR-U(Japanese)

はんだ接合部やコネクタ接合部の微小抵抗値を連続して測定。接続部分の信頼性を効率よく評価します。エスペックの「導体抵抗評価システム」は、低温・高温の温度サイクル環境下において、はんだ接合部やコネクタ接続部の導体部分の微小抵抗値を連続測定します。コンピューターによる自動計測、データ収録およびデータ処理のシステム化を実現し、接続信頼性評価をより正確に効率よく行えます。


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環境試験器の紹介冷熱衝撃装置TSAシリーズ温度範囲内法(mm)高温器:+60〜+200℃低温器:-70〜0℃温度復帰時間と温度上昇、下降時間の短縮、消費電力量の低減や操作設定が簡単に行えるタッチパネル計装の採用など、より一層使いやすく、また地球環境にもやさしい製品です。型式TSA-73ESTSA-73EHTSA-103ESTSA-203ESTSA-43ELTSA-73ELTSA-103ELTSA-203ELTSA-303ELW410×H460×D370W410×H460×D370W650×H460×D370W650×H460×D670W240×H460×D370W410×H460×D370W650×H460×D370W650×H460×D670W970×H460×D670高温器:(外囲温度+50)〜+200℃低温器:-65〜0℃冷熱衝撃装置TSDMIL-STD-883をはじめ、JISC0025、JASO-D001など国内外の試験規格に対応した2ゾーンの冷熱衝撃装置。優れた温度分布性能で試料へ均一な温度ストレスを与えます。またSTT機能により、試料の温度をモニタし試料温度が設定値に到達してから、さらし時間のカウントを開始、または即時次ステップに移行するなど、正確な試験が可能。+150℃⇔-60℃の復帰時間も15分と短く、試験時間を短縮します。研究・開発から検査・生産分野まで幅広いフィールドでご使用いただけます。型式温度範囲内法(mm)TSD-101-W高温器:+60〜+205℃低温器:-77〜0℃W710×H345×D410急速温度変化チャンバーTCC試料への急速温度変化を実現し、JEDEC規格からスクリーニングまで幅広い用途に対応します。優れた温度変化率を備え、試料への均一な温度ストレスを与えます。また、試料温度15℃/分の試料温度制御方式と、温度サイクル試験や冷熱衝撃試験が行える空気温度制御の2つの制御方式を採用しています。型式TCC-151W温度範囲内法(mm)-70〜+180℃W800×H500×D40014


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