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計測システムの紹介エレクトロケミカルマイグレーション評価システムAMI高速通信及びエネルギーの効率化から材料や電子部品の耐絶縁信頼性がより重要になってきています。AMIは、さまざまな環境因子の下で信頼性評価を実現する為に欠かせない装置です。■評価対象●プリント基板全般●絶縁材料●半導体材料半導体パラメトリック評価システム複数素子が高機能化のために、一つのパッケージに集約されています。各素子の特性を評価する事で全体の機能保証をする事が必要不可欠です。AMMは、素子の特性や寿命予測をする為に欠かせない装置です。AMM■評価対象●半導体トランジスター●Low-k材料●High-k材料エレクトロマイグレーション評価システムAEM高集積化に伴い、半導体素子内の配線はより伝導率の高い材料が使われ、より高温(350℃)下での加速寿命評価が必要です。AEMは、先端配線評価やフリップチップ用BUMPBall評価に欠かせない装置です。■評価対象●半導体配線パターン●はんだバンプコンデンサ温度特性評価システムIOT・5(6)G通信に欠かせない、コンデンサー・インダクタは、様々な温度環境下で使用されております。AMQは、幅広い温度環境下での周波数や電圧による特性を取得する為に欠かせない装置です。AMQ■評価対象●MLCCコンデンサー●アルミ電解コンデンサー●インダクタ等13
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