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特長昇降式の2ゾーンテストエリアにより試験時間を短縮昇降式冷熱衝撃装置ラインアップ型式TSD-301-WTSD-101-WTSE-12-A内容積275L100L10.9Lテストエリア寸法W650×H650×D650mmW710×H345×D410mmW320×H148×D230mm冷却方式水冷空冷●TSD-101-W試料温度復帰(例)(MIL-STD-883コンディションCに準拠)試験条件高温さらし:+150℃30分低温さらし:-65℃30分試料:IC10kg200温度分布の測定方法10個のICに熱電対を埋めこみ、試料カゴ2段の4隅と中央にセット。(熱電対を埋めこんだ試料は他のICの中に埋める)15分以内+150℃↔-65℃温度復帰5分を実現TSD-101は、試料の温度復帰時間を15分以内(設定温度が+155℃と-68℃、プラスチックモールドIC試料10kgの場合)と高性能。小型タイプのTSEは、2ゾーンの風上制御で温度復帰時間5分以内を実現します。テストエリア移動時間10秒以内MIL-STD-883をはじめ、JISC60068-2-14-Naなどの試験規格に対応しています。(TSD-101、TSE)安定した温度分布性能テストエリア内への空気の流れを均一に分散させ、優れた温度分布性能を有します。均一な熱ストレスを与え、試料間の試験結果のばらつきを最小限に抑えます。振動・衝撃を低減テストエリアでの高温槽⇔低温槽移動時の試料への振動・衝撃を抑えるために、ソフトムーブモードに自動的に切替わります。330340350360370380390400410420430440時間(分)±0.5℃TSDTSE試料を保護するテストエリア落下防止機構槽内で駆動停止した場合に備え、駆動装置のブレーキ機構を装備。テストエリアからの試料落下を防止します。充実した安全対策扉開放時はテストエリアの駆動は自動停止し、装置稼動中にも扉が自動的にロックされるなど二重の対人安全機構を備えています。●試験時間比較(例)試験条件高温さらし:+150℃復帰後15分低温さらし:-65℃復帰後15分試料:IC10kg制御点:風上センサ位置測定結果当社製品と比較して、約15分/サイクルの試験時間短縮。試験サイクル数が3000サイクルの場合、従来の4.5ヶ月から約1ヶ月の試験時間短縮可能。50分TSD-100TSE高温さらし状態TSE低温さらし状態6090120150180210240270300330360風上センサ温度200150100500温度(℃)-50-100303320330340350360370380390400410時間(分)●TSD-101-W温度分布性能(例)試験条件高温さらし:+150℃30分低温さらし:-65℃30分試料:IC10個200温度分布の測定方法10個のICの表面に熱電対を貼り付け、試料カゴ2段の4隅および中央にそれぞれセット。±0.7℃-100029015分以内31030015010050-50温度(℃)150100500-50-100温度(℃)
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