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コンデンサ絶縁劣化試験システム

  • 機械概要
  • 詳細仕様
チャンネル構成 標準500チャンネル、 最大1000チャンネルまで増設可能
ソフトウェア OS Windows7
計装制御 ストレス電圧印加範囲 DC1.0~100V (50Vまで0.1V、50V以上 1Vステップで変更可)
電源容量 100V 3A(100チャンネルに1台電源搭載) 1チャンネルあたりコンデンサと直列に
保護抵抗10kΩを接続した場合
抵抗測定範囲 10kΩ~100MΩ(at DC1V~100V)
測定速度 3秒以下/チャンネル(ただし、コンデンサ容量により異なる)
試験条件 設定単位 25チャンネル単位。試験チャンネルは1チャンネル単位で選択。 ただし、印加電圧は100チャンネル単位
制御単位 500チャンネル
故障判定基準
(4種類)
(1)絶縁抵抗リミット1[絶縁抵抗値、試験停止] (2)絶縁抵抗リミット2[絶縁抵抗値、故障表示のみ] (3)変化値リミット[初期値からの変化量、試験停止] (4)変化率リミット[初期値からの変化率、試験停止]試験停止は故障発生チャンネルのみ
試験条件 設定単位 (1)中断:全試験チャンネル中断(指定の温湿度へ自動制御) (2)強制終了:全チャンネル試験終了または任意チャンネル終了を選択
データ処理 稼働状況表示 試験温湿度、残存サンプル数、故障発生件数、 全体・区間故障率、試験条件、ディスク空き容量、 試験ユニット・チャンネルごとの抵抗値、故障発生状況など
グラフ表示 試験ユニット単位(25チャンネル)、1チャンネル毎に絶縁抵抗値の変化をグラフ表示
データ表示および
データ変換
試験ユニット単位で故障発生表示、 1チャンネルごとに絶縁抵抗値表示、 テキストデータ及び2次データ変換(データ解析ソフト用)機能
データ解析 ヒストグラム 試験時間に対する故障発生件数をヒストグラム X軸:区間分けした時間 Y軸:故障発生件数
故障率曲線 試験時間に対する故障率グラフ X軸:試験時間 Y軸:各測定時間での故障率
ワイブル解析 ワイブルプロットおよびm、η、γ、MTTF、σ、メジアンなどパラメータ推定値算出
故障データ 絶対抵抗リミット1、絶対抵抗リミット2、 変化値リミット、変化率リミットから選択可
データ解析 試験終了後のみ有効
サンプル搭載治具 テスト基板実装タイプ、コンタクトピンタイプなど
高温槽 高温高湿器または高温器
要求設備(チャンバー除く) AC100V 1φ15A、AC200V 1φ30A

※ 仕様は予告なく変更することがあります。

※ Windowsは米国Microsoft Corporationの登録商標です。