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試料温度負荷は均一で再現性にも優れた温度変化速度風量・風速をシミュレートし、試料温度差を最小限に抑えより正確な急速温度変化試験が行えます。試料温度では15℃/分、空気温度では23℃/分(温度上昇時アベレージ)を実現しています。試料温度ランプ制御試料温度変速度を一定にするために、試料温度測定センサー(1点)の採用と試料温度を高精度にランプ制御させる高速制御コントローラー。測定・制御を高速で処理するとともに、低温時の冷凍能力の拡大や試料と空気温度差を最小限に抑える空調技術、試料温度分布を最小にする風速分布の均一化など、さまざまな新技術で試料温度ランプ制御を実現しています。JEDEC規格《JESD22-A104E》の規格試験に対応半導体パッケージ評価、はんだ接合部評価のJESD22-A104E規格を実現した急速温度変化チャンバーは、15℃/分(-40℃〜+125℃)の試料温度ランプ制御が行えます。試料温度制御と空気温度制御に対応JEDEC規格の試料温度15℃/分の温度勾配が行える試料温度制御と、温度サイクル試験が行える空気温度制御の2つの制御方式を採用。各種試験規格からスクリーニングまで幅広い用途にご利用いただけます。3545556575時間(分)120100806040200温度(℃)-20-40-6025特長●温度変化(例)■温度変化測定データ140■測定12ポイントの温度変化速度(アベレージ)2520151050温度変化速度(℃/min.)※JISC60068-3-5:2006に準拠温度上昇時13.9〜15.1℃/min.温度下降時14.9〜15.4℃/min.123456789101112測定(ポイント)試験条件高温ソーク:+125℃低温ソーク:-40℃ランプレート:15℃/min.制御点:吹出センサー試料ガラスエポキシ基板145×130mm90枚:測定方法右図の12ポイントの試料に熱電対を貼り付け。●試料温度ランプ制御(例)■試料温度制御データ⑥⑫③⑨⑤⑪②⑧④⑩①⑦試料温度設定温度23283338434853586368時間(分)1401006020温度(℃)-20-6018試験条件高温ソーク:+130℃低温ソーク:-45℃ランプレート:15℃/min.制御点:下段手前中央の基板試料:ガラスエポキシ基板145×130mm90枚測定方法試料カゴ2段にそれぞれ45枚2列に基板をセットし、制御点の試料表面に熱電対を貼り付け。3
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