- 1~100Mhzの周波域にてコンデンサや各種材料が持つ特性である、「静電容量(C)」「リアクタンス(L)」「インピーダンス(Z)」「Q値」の測定を、自動で評価することが可能。
- 多チャネルでの同時測定が可能による試験の省力化。
- 恒温槽と連動する事であらかじめ設定した条件で自動測定が可能。
型式 | AMQ-RF |
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測定チャネル数 | 36チャネル ※拡充は対応可能 |
測定範囲 | 周波数:1M~100MHz L:1n~100μH Q:0.1~100 Z:100mΩ~1kΩ C:1pF~100nF |
高周波・高耐熱のコンデンサ・インダクタを評価されるお客様へ
第5世代移動通信システム(5G)で使われる受動素子では、高周波への対応や耐熱性が求められます。
そのため、温度特性評価、絶縁信頼性評価、接合信頼性評価など様々な評価がおこなわれております。
エスペックでは、これらの評価の省力化・自動化に寄与する製品をご提供します。
5Gで使用されるインダクタ/コンデンサには高周波での対応が求められます。また、5Gで使用されているインダクタ/コンデンサは、周囲環境の影響を受け温度により性能が変わることから、製品を保証する上で、コンデンサの特性を把握しなければなりません。
温度ステップ制御の自動化並びに各種特性評価を多チャネルで自動測定が可能となっております。
事例紹介
型式 | SU/SH-222 | SU/SH-242/242-5/642 | SU/SH-662/262 | |
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温度範囲 | -20~+150℃ | -40~+150℃ | -60~+150℃ | |
湿度範囲 ※SHのみ | 30~95%rh | |||
扉 タ イ プ 一 覧 |
フラットケーブル孔 | ◯ | ◯ | ◯ |
BNCコネクタ | ◯ | ◯ | ◯ | |
サンプルホルダー | ◯ | ◯ | × |
積層チップインダクタは長期間使用することで、電流と熱による断線による破壊が発生します。本装置では高温状態で導体コイルに定電流を流すことで、寿命評価が行えます。
事例紹介
コンデンサは、5Gにおいて必要不可欠なキーデバイスです。その性能や安全性を確認するための高温や高温高湿試験環境下でコンデンサの絶縁劣化特性の評価は、重要になってきています。
エスペックでは、絶縁劣化評価において多チャネル同時測定、自動化、恒温槽との連動といった試験の効率化により、開発・評価期間の短縮が可能です。
事例紹介
型式 | AMI-U |
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測定チャネル数 | 150チャネル/ラック(100V/300V/500V/1000V/2500V) 300チャネル/ラック(100V/300V/500V) ※拡充は対応可能 |
抵抗測定範囲 | 2×105〜1×1013Ω(100V印加時) 2×103〜1×1011Ω(1V印加時) |
電流値測定範囲 | 10pA~1mA |
电压施加范围 | 100V/300V/500V/1000V/2500V |
受動素子では、基板の熱膨張と収縮によって発生する受動素子と基板接合部のクラックをはかる導体抵抗評価が重要となってきます。
エスペックでは低温・高温の温度サイクル環境下において、はんだ接合部やコネクタ接続部の導体部分の微小抵抗値を連続測定。
コンピュータによる自動計測、データ収録およびデータ処理のシステム化を実現し、接続信頼性評価をより正確に効率よく行えます。
事例紹介