事例紹介

• 高周波インダクタ／コンデンサ温度特性評価システム
  • 1～100Mhzの周波域にてコンデンサや各種材料が持つ特性である、「静電容量(C)」「リアクタンス(L)」「インピーダンス(Z)」「Q値」の測定を、自動で評価することが可能。
  • 多チャネルでの同時測定が可能による試験の省力化。
  • 恒温槽と連動する事であらかじめ設定した条件で自動測定が可能。

  型式	AMQ-RF
  測定チャネル数	36チャネル ※拡充は対応可能
  測定範囲	周波数：1M～100MHz L：1n～100μH Q：0.1～100 Z：100mΩ～1kΩ C：1pF～100nF

  
• スライド扉式小型環境試験器
  • 扉スライド機構の装備により、恒温槽内の狭いスペースではなく、スライド扉を引き出しオープンスペースでの作業が可能。
  • 配線距離の短縮や配線長に起因する測定誤差・信号の伝送速度の低下の改善に寄与する扉一体型スライドトレイの装備。
  • サンプルや用途に応じて様々なご提案が可能な多種多様なインターフェイス付き扉をご準備。

  

  型式		SU/SH-222	SU/SH-242/242-5/642	SU/SH-662/262
  温度範囲		－20～＋150℃	－40～＋150℃	－60～＋150℃
  湿度範囲　※SHのみ		30～95％rh
  扉 タ イ プ 一 覧	フラットケーブル孔	◯	◯	◯
  	BNCコネクタ	◯	◯	◯
  	サンプルホルダー	◯	◯	×

事例紹介

• 積層チップインダクタ信頼性評価システム
  • 高温下で定電流を印加してインダクタ内部の熱ひずみを加速させ、抵抗値の変化を測定し寿命を評価。
  • 恒温槽と連動した電流ストレス印加し、抵抗値を測定。
  • 測定治具を用いることで、試料への接続が容易であり、作業の省力化。

  型式	AEM
  測定チャネル数	最大72チャネル
  ストレス電流源 出力範囲	＋DC10mA～10A （３レンジ）

  

事例紹介

• コンデンサ絶縁劣化評価システム
  • 高温や高温高湿環境下で絶縁劣化を加速させ、絶縁劣化特性を評価。
  • 最大2500Vの高電圧が印可可能。
  • 瞬間的に発生する短絡現象を正確に捉えることが可能な、リークタッチ検出機能を搭載。リーク電流を検出した時点で自動で測定を終了。
  • 測定治具を用いることで試料への接続が容易であり作業の省力化。

  型式	AMI-U
  測定チャネル数	150チャネル/ラック(100V/300V/500V/1000V/2500V) 300チャネル/ラック(100V/300V/500V) ※拡充は対応可能
  抵抗測定範囲	2×105〜1×1013Ω（100V印加時） 2×103〜1×1011Ω（1V印加時）
  電流値測定範囲	10pA～1mA
  电压施加范围	100V／300V／500V／1000V／2500V

  

事例紹介

• 導体抵抗評価システム
  • 基板の熱膨張と収縮によって発生する受動素子と基板接合部のクラックを抵抗値連続測定と判定機能により自動検出。
  • 環境試験器との連動による温度のモニタリングと記録を同時に行うことによる作業の省力化。

  型式	AMR-U
  測定チャネル数	測定チャネル数
  抵抗測定範囲	1×10-3〜1×106Ω
  印加方式	直流電流測定方式