端末・通信モジュール

ミリ波対応のスマートフォン等5G通信端末やアンテナを開発するお客様へ

第5世代移動通信システム(5G)のミリ波帯の有線による通電評価では、不要電波の漏えいを防ぎ、
他周辺機器への影響を抑える必要があります。さらに、高地での使用・輸送や使用中の温度変化に対する
耐久性の信頼性評価も行われます。エスペックではこれらの評価に最適な製品をご提供します。

試験装置

5G通信機器向け 高温/低温耐久・動作試験装置

第5世代移動通信システム(5G)用の「Sub6」に相当する周波数帯0.6GHz~6GHzにおける各種通信機器の需要が増え評価が行われており、通電評価では不要電波の漏えいを防ぎ、他周辺機器への影響を抑える必要があります。
外部からの電波を遮断し、内部の電波を外部に漏らさず温度環境を実現可能とするシールド恒温器をご紹介します。

  • 5G通信機器向け 高温/低温耐久・動作試験装置 シールド仕様恒温槽
    • シールドルーム内に入れることなく、装置単体で槽内からの電波漏洩を防止し、外部からの不要電波による妨害を避けることが可能。
    • シールドルームの設置が不要のため、設備投資の抑制が図れるとともにレイアウト変更にも柔軟に対応が可能。
    • シールド恒温槽のシールドを2重にする「高シールド仕様」では、周波数帯0.5~6GHzで減衰率70dB以上の高い減衰率を実現。

    製品動画

    型式 シールド仕様
    SU−642
    PUSH−2 PUSH−3 PUSH−4 高シールド仕様
    PUSHH−3
    周波数帯/
    減衰率
    4GHz,6GHz/
    40dB以上
    0.7~2.4GHz/45dB以上
    2.4~4GHz/50dB以上
    4~6GHz/60dB以上
    0.5~6GHz/
    70dB以上
    温度範囲 −40~+100℃ −40~+100℃ −40~+100℃
    内法 (mm) W400×H400×D400 W500×H750×D600 W600×H850×D800 W600×H850×D800 W465×H640×D645

温度環境下でのOTA試験・無線試験用装置

5G用の基地局では伝送損失低減のためにアンテナと無線送受信モジュールは一体化されることにより、OTA測定での温度依存性評価が求められております。
本装置では、電波暗室の機能を要しながら、温度試験を実施する事が可能です。

  • 温度環境下でのOTA試験・無線試験用装置 恒温電波暗室
    • 温度環境下での無線RF性能試験が可能
    • シールド性能 → 周波数範囲:0.5~30GHz、減衰率:60db以上。
    • 試験体が発する電波の外部への漏洩を防止することで周囲の設備へ悪影響を及ぼしません。
    • 電波暗室内を低温~高温で精密制御が可能。
    • 独自の保温技術により凍結を防止し、低温時でも稼働制限なくターンテーブル、ポジショナーの動作が可能。
    制御温度範囲 -40〜+100℃
    シールド
    性能
    周波数範囲 0.5〜30GHz※
    減衰率 60dB以上※
    内法(mm) W14000×H3000×D7000※

    ※上記以外のシールド性能・内法は、ご相談下さい。

  • 温度環境下でのOTA試験・無線試験用装置 シールドボックス/電波暗箱+精密空気供給装置
    • 温度環境下での無線RF性能試験が可能
    • ユニット型温度供給装置温度調節された空気をダクトを通じて電波暗箱に供給します。
    • 電波透過ボックスを使用し、試験体の温度環境を一定に維持。
    • 既に保有の電波暗箱/シールドボックスへの接続も可能。
      ※接続の可否に関しては事前にご相談下さい。
    制御温度範囲 -40〜+100℃
    シールド
    性能
    周波数範囲 77GHz
    減衰率 50db
    内法(mm) W1200×H1200×D12000
    (内法は変更可能)
  • 温度環境下での無線プロトコル試験装置 電波暗箱型低温恒温器
    • 温度環境下での無線プロトコル試験が可能
    • 4.0~6.0GHzの周波数帯においても減衰率60db以上を確保。
    • 電波暗箱内を低温~高温で精密制御が可能。
    • 電波暗室より設置面積が小さく、小型の通信モジュールの試験が可能。

    製品動画

    型式PUAN-3PUAN-4
    周波数帯/減衰率 0.7~2.4GHz/45dB以上
    2.4~4GHz超過/50dB以上
    4~6GHz超過/60dB以上
    温度範囲 -40〜+100℃
    内法(mm) W300×H550×D500 W750×H750×D550

輸送評価試験装置

スマートフォン等の5G通信端末では航空機内や高地など減圧環境での使用や輸送の耐久性を評価しています。
エスペックでは減圧環境下で低温から高温までの複合環境試験装置を提供します。

  • 輸送評価試験装置 恒圧恒温チャンバー VLC
    • 低温/高温、減圧環境での動作や保存環境の再現に最適。
    • 輸送評価(減圧試験)規格、IEC60068-2-13に対応。
    • 試料への通電試験が可能なハーメチック端子をオプションとしてご用意。
    型式 VLC-201P/301P
    温度範囲 -20~+80℃
    圧力制御範囲 93.3~10.1kPa
    内法(mm) W560×H560×D509/
    W800×H800×D709

温度サイクル試験装置

通信端末やその構成部品において、周囲温度の変化に対する耐久性を評価する場合、低温から高温までの温度サイクル試験が行われています。また、試料の通電発熱がある状態で希望の温度に制御することが恒温槽に求められます。
エスペックでは、これらの評価に最適な急速温度変化速度と高発熱負荷に対応した製品を提供します。

  • 温度サイクル試験装置 ARシリーズ
    • +20℃の環境下で9.5kWの発熱負荷に対応。
    • 重量物を投入の際にリフターや台車等が挿入可能になる大型キャスターの装備。
    • 試料への配線作業の省力化が可能な扉ノッチ(オプション)をご用意。
    • タイムシグナル端子により通電や測定タイミングを温度試験プログラムと同期が可能。
    温度範囲 -70~+180℃
    温度変化速度 4~15℃/分
    許容発熱負荷(例) 9.5kW(槽内温度+20℃)
    内容积 250~1100L
  • 温度サイクル試験装置 HRシリーズ
    • +20℃の環境下で30kWの発熱負荷に対応。
    • 温度変化速度が20℃/分、25℃/分の急速温度変化試験が可能。
    • 内容積357~1800Lまでを取り揃えた幅広いラインアップ。
    温度範囲 -70~+180℃
    温度変化速度 20/分、25℃/分
    許容発熱負荷(例) 9.30kW(槽内温度+20℃)
    内容积 357~1800L
  • 温度サイクル試験装置 TCC
    • JESD22-A104FやIPC-9701に対応した温度変化率の制御が可能。
    • 試料への配線作業の省力化が可能な扉ノッチ(オプション)をご用意。
    • タイムシグナル端子により通電や測定タイミングを温度試験プログラムと同期が可能。
    温度範囲 -70~+180℃
    温度変化速度 23℃/分
    内容积 160L