事例紹介

• 誘電率温度依存性評価試験装置
  スポット冷却加熱装置＋電波透過ボックス＜Sパラメーター法（フリースペース法）
  • 試料の周りだけ温度調整できるためアンテナは常温状態で試験が可能。
  • 試料に直接温度調節された空気を吹き付けることで、素早い温度変化を実現。

  

  型式	MTA-171 先端ヒータータイプ（NEW）	MTA-171 背面ヒータータイプ
  吹出温度制御範囲 （吹出温度設定範囲）	-40℃～+180℃（-60℃～+200℃）
  温度変化速度 （上昇：-29℃⇒+169℃） （下降：+169℃⇒-29℃）	100℃／分	10℃／分
  圧縮空気源 (0.55～1.0MPa) ※露点温度‐60℃以下、 空気温度30℃以下	140～200NL/min
  オプション	吹出温度制御範囲拡大 （-40℃～＋250℃）	－

• 誘電率温度依存性評価試験装置　小型環境試験器＜スプリットシリンダ法＞
  • 試料をセッティングしたスプリットシリンダ共振器ごと槽内に設置でき省スペースで試験環境を構築。
  • 湿度の影響を受ける試料の場合でも湿度付きタイプを選択することで温湿度環境下での誘電率測定が実施可能。

  型式	SH／SU-262　　SH／SU-662
  温度範囲	－60～＋150℃（制御可能温度範囲）
  温度変化速度	上昇速度2.9℃／分、降温速度1.7℃／分 （温度範囲－39～＋129℃）　※参考値

  

事例紹介

• 絶縁信頼性評価試験装置　絶縁抵抗／漏れ電流評価システム
  • 高温高湿環境と通電により絶縁不良を加速させ、抵抗値変化の測定により絶縁劣化を評価。
  • 瞬間的に発生する短絡や短絡・復帰の繰り返しを自動検出（リークタッチ検出判定）による自動化。
  • 恒温槽と連動し予め設定した条件での自動測定。
  • 独自のスキャナ方式により、複数試料の測定を自動化。

  型式	AMI-U
  測定チャネル数	150チャネル/ラック(100V/300V/500V/1000V/2500V) 300チャネル/ラック(100V/300V/500V) ※拡充はカスタム対応可能
  測定範囲	2×105～1×1013Ω(100V印可時) 2×103~1×1011Ω(1V印可時)
  电压施加范围	100V／300V／500V／1000V／2500V
  連動可能な 弊社恒温槽	・高度加速寿命試験装置　HASTチャンバー ・恒温恒湿器　プラチナスJシリーズ ・ハイパワー恒温恒湿器　ARシリーズ ・小型環境試験器

  

  
• 絶縁信頼性評価試験装置　高度加速寿命試験装置　HASTチャンバー
  • 試験槽の二段積みによる省スペース化。
  • 上下で別の温湿度条件を設定可能（EHS-212MD/222MD/412MD）。
  • 試料への配線作業の省力化が可能な槽外で配線し槽内に設置可能なスライド棚板式端子台をオプションとしてご準備。
  • 大型の試料や小型試料の大量評価に最適な大型タイプもご用意。

  

  型式	EHS-212／222／412（M／MD）	EHS-432／432L
  温湿度範囲	212／222 温度　＋105～＋142.9℃ 湿度　75～100%rh 412 温度　＋105～＋162.2℃ 湿度　75～100%rh	湿度　75～100%rh 湿度　75～100%rh
  内法	212／412 Φ294×D318　※(296)mm 222 Φ394×D426　※(404)mm ※(　)はファンガード突起を除く寸法	432 Φ548×D560 mm 432-L Φ560×D760 mm