事例紹介

• 温度環境下でのOTA試験・無線試験用装置　恒温電波暗室
  • 温度環境下での無線RF性能試験が可能
  • シールド性能 → 周波数範囲：0.5～30GHz、減衰率：60db以上。
  • 試験体が発する電波の外部への漏洩を防止することで周囲の設備へ悪影響を及ぼしません。
  • 電波暗室内を低温～高温で精密制御が可能。
  • 独自の保温技術により凍結を防止し、低温時でも稼働制限なくターンテーブル、ポジショナーの動作が可能。

  制御温度範囲		-40〜+100℃
  シールド 性能	周波数範囲	0.5〜30GHz※
  	減衰率	60dB以上※
  内法（mm）		W14000×H3000×D7000※

  ※上記以外のシールド性能・内法は、ご相談下さい。

  
• 温度環境下でのOTA試験・無線試験用装置　シールドボックス／電波暗箱＋精密空気供給装置
  • 温度環境下での無線RF性能試験が可能
  • ユニット型温度供給装置温度調節された空気をダクトを通じて電波暗箱に供給します。
  • 電波透過ボックスを使用し、試験体の温度環境を一定に維持。
  • 既に保有の電波暗箱／シールドボックスへの接続も可能。
    ※接続の可否に関しては事前にご相談下さい。

  制御温度範囲		-40〜+100℃
  シールド 性能	周波数範囲	77GHz
  	減衰率	50db
  内法（mm）		W1200×H1200×D12000 （内法は変更可能）

  
• 温度環境下での無線プロトコル試験装置　電波暗箱型低温恒温器
  • 温度環境下での無線プロトコル試験が可能。
  • 4.0～6.0GHzの周波数帯においても減衰率60db以上を確保。
  • 電波暗箱内を低温～高温で精密制御が可能。
  • 電波暗室より設置面積が小さく、小型の通信モジュールの試験が可能。

  製品動画

  型式	PUAN-3	PUAN-4
  周波数帯/減衰率	0.7～2.4GHz/45dB以上 2.4～4GHz超過/50dB以上 4～6GHz超過/60dB以上
  温度範囲	-40〜+100℃
  内法（mm）	W300×H550×D500	W750×H750×D550