パワーサイクル試験

試験の概要・特長

省エネルギーや地球環境保全で注目を集めるパワー半導体。エスペックはこのパワー半導体の試験方法のひとつ、パワーサイクル試験の受託を開始しました。
パワーサイクル試験は、パワーMOSFETやIGBTモジュールなどのパワー半導体の信頼性を確保するため、デバイス温度やジャンクション温度、電圧、電流などをモニタしながらデバイスの各種制御因子のフィードバック制御とデータロギングを行います。この試験はモジュールの動作寿命の推定に有効です。

試験設備のご紹介

パワーサイクル試験においては、供試品の電圧・電流・冷却方式・雰囲気温度などの条件を設定して行われます。
当社はお客さまのご要求に対してカスタマイズでお応えします。
お客さまのご要求にスピーディに対応します。
冷却方法やサンプル冶具などのハードと試験方法などのソフトをカスタマイズしてご提供します。
各種温度や電圧、電流など数種類のデーターをトリガーにして、モジュール劣化や各種故障発生時に試験を安全に停止させます。
冷却方法や試験方法などをご選択していただけます。

主なカスタマイズ項目

左右にスクロールしてご覧ください

項目	選択例
冷却方式	・空冷式（チャンバー内）　・水冷式
温度制御ポイント	・ケース温度Tc ・ジャンクション温度Tj
試験方法	・デバイス温度が設定温度に到達するようにIceのON／OFFによる制御を繰り返す・設定時間でIceのON／OFFを繰り返す
電流	・80A　⇒　現在保有している電源での対応（それ以上対応可能）

お客さま設備を利用したカスタマイズも可能です

お客さまが所持している電源装置などの試験設備を有効活用した試験の受託も可能です。

ご要求される試験仕様と予算に応じてフレキシブルに対応できます
パワーサイクル試験を実施するために不足する機器を当社がご用意して、試験を実施します。

設置状況

パワーサイクル試験システム