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PID試験

試験の概要・特長

太陽光発電システムに起きるPID(Potential Induced Degradation)現象とは、PVモジュールのフレームとモジュール回路に生じた大きな電位差によるリーク電流が引き起こす劣化現象です。PID 現象は、太陽光発電システムの出力を低下させる要因の一つと考えられ、湿度によりその現象は促進すると言われています。このPID現象の評価を正確に実施するためには、高精度・再現性に優れた高温高湿環境下で高電圧を印加し、リーク電流を測定することが必要です。

試験の概要・特長

試験設備のご紹介

PID現象を評価する最新の試験動向では水分による劣化促進の影響が重要視されており、高温高湿環境下で行うPID現象評価試験(チャンバー法)が注目されています。

  • ミニモジュールサイズ
    3枚のサンプルパネルの同時試験が可能。
    新規設計のPID 試験専用高絶縁冶具を開発。
  • フルモジュールサイズ
    10枚のサンプルパネルの同時試験が可能。
  • PID試験前後の太陽電池の出力測定/EL測定に対応いたします。
設置状況
  • PID試験システム
写真:PID試験装置
PID試験装置
写真:EL画像
EL画像
項目 試験条件(IEC62804 Ed.1 2015年8月6日発行)
槽内温度 60℃±2℃ or 85℃±2℃
槽内湿度 85%±5%
電圧印加条件 -600DCV or -1000DCV
 
リーク電流測定範囲 ±200nA ~ ±1mA
基本チャンネル数 3ch
太陽電池パネルの評価試験

厳しい環境にさらされる太陽電池の評価試験に対して、材料部品の評価から完成モジュールの評価にいたるまでさまざまな評価試験を受託しています。太陽電池はIEC規格試験に沿った温度サイクル・温湿度サイクル試験が実施されており、お客様の試験ニーズに適合した試験装置をご提案させていただきます。

  • 太陽電池パネルに適用される主な試験
  • 温湿度サイクル試験
  • 耐熱性(高温保存)試験
  • 耐湿性試験
  • 結露凍結試験
  • IEC規格などで要求される温度・湿度試験