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瞬断解析システム

コネクタや配線の瞬間的な断線を検知

電子部品の高性能化・高密度化にともない、これまで問題とならなかった現象が故障原因となり、電気特性のわずかな変化が故障に至ることが増加してきています。
このような故障を引き起こす原因の一つに瞬断現象があります。過酷な振動や熱衝撃環境下で使用される車載用電子機器に使用されるコネクタ、リレーなどの接続部品を対象として行われてきた瞬断評価試験は、電子機器の携帯化が進む中、欠かすことのできない評価試験です。
「イベントディテクター」はコネクタの勘合時に、その接点部分が振動や温度変化により、瞬断的に発生する接触不良現象を計測するシステムです。
この計測システムはこれまで捉えることが困難であった瞬断現象をリアルタイムに検出し、あわせて発生時の環境の測定も行います。また、複数個のサンプルに対して一度に試験を行えるなど、瞬断の解析・評価をこれまで以上に正確に効率よく実現します。

特長
  • コネクタやはんだ接合部で発生する瞬断を正確に、連続検出
    瞬断時間は、最速100nsec.からの発生を正確に検知でき、瞬断の発生回数を1チャンネルで最大500回までカウントできます。また、瞬断時間幅を計測することもできます。
    恒温恒湿槽はモジュールサイズに合わせてお選びいただけます。

    【サンプルの断線状況を捉える3つのレコードモード】
    ①発生した断線/復帰のイベントと瞬断時間幅の連続記録
    ②抵抗値トレンド収録(時間間隔は任意で設定可能)
    ③イベント発生前後1秒間の抵抗値を10ms間隔で200データ記録可能

  • 瞬断検出専用の計測ボードを開発
    計測ボード1枚で5チャンネルの瞬断計測ができる専用ボードを用意。計測ボードを増設することで、最大200chまで拡張できます。
  • 高電圧帯電を防止する、独立アース処理
    恒温恒湿槽の扉内側板・内装・トランス二次側の電機部品を、個々のアースターミナルへ配線し、感電事故を防ぎます。
  • 瞬断検出条件は、ボードごとに設定可能
    サンプルに印加する電流値、瞬断検出時のしきい値(抵抗値)、瞬断時間幅をボードごとに指定可能です。
  • 振動試験装置や温度サイクル試験装置と組み合わせた環境下での瞬断評価が可能
    瞬断発生回数や瞬断継続時間幅と振動周波数などと同期して評価することができます。
システムブロック図
システムブロック図
ソフトウェア

ソフトウェア図

■周波数、温度、湿度データの同時収録可能
■イベント発生状況を時間軸別に表現可能
■200ch分のイベントを同時収録可能
■Windowsベースにしたデータの一括管理

仕様
型式
AES-N
チャンネル構成
標準25ch(最大200ch/ラック)
チャンネル制御
5ch制御のみ
計測制御機能
印加電流値
1mA~100mADC 1mAステップ可変 開放10mV~3.0V
瞬断時間幅
設定範囲
最小設定単位
最小分解能
100nsec.~1msec.
100nsec.
100nsec.
瞬断検出レベル
10mΩ~2000Ω
電圧測定範囲
0V~2.5V、5ch(温度、湿度、振動試験装置のモニタ用)
データ収録
瞬断発生回数
1チャンネルに付き最大500回までカウント可能
瞬断時間幅
瞬断発生開始と終了の時間から、瞬断が継続した時間幅を算出
外寸法
キャビネット:W570×H1582×D800mm
※製品の改良・改善のため、仕様および外観、その他を予告なく変更することがあります。あらかじめご了承ください。

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