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高度加速寿命試験装置HASTチャンバー大型高度加速寿命試験装置HASTチャンバー小型の電気・電子部品(主に非気密封止部品)より大きな試料に対応しています。機械式扉ロック機構/扉ロックセーフティ機構を標準で装備しています。半導体向け各種試験規格への対応IEC60068-2-66IEC60749-4EIAJED-4701JESD22-A110EJESD22-A102E非気密封止(中空でない)デバイス非気密封止IC、ディスクリートデバイス飽和半導体デバイス半導体デバイス不飽和不飽和不飽和不飽和型式EHS-432(M)EHS-432(M)-L温度・湿度・圧力範囲+105.0℃〜+162.2℃/75%rh〜100%rh/0.0196MPa(Gauge)〜0.392MPaGauge)内法φ548×L560mm(130L)φ560×L760mm(180L)電気・電子部品に高温・高湿・高圧力の3つのストレスを与えて寿命を短時間で評価することができます。二重円筒構造と独自の空調方式により、試料への結露を防ぎ、信頼性の高い試験が可能です。1台の設置スペースで2倍の容量を確保できる2槽タイプもご用意。異なる試験条件での上下同時試験や、処理量の増大に対応できます。操作性と視認性を高めたカラータッチパネルのコントローラーを搭載したほか、パソコンなどで装置を遠隔監視・操作できるネットワーク機能も追加しています。また、試料信号端子を色分けして配線の接続を容易にするなど、装置の使いやすさが象徴的にデザインされている点が評価され、「2018年度グッドデザイン賞」を受賞しました。「乾湿球温度制御」「不飽和制御」「濡れ飽和制御」の3モードを装備したMタイプは、国際規格IEC-60068-2-66に対応しています。型式EHS-212(M)EHS-212MDEHS-222(M)EHS-222MDEHS-412(M)EHS-412MD温度・湿度・圧力範囲+105.0℃〜+142.9℃/75%rh〜100%rh/0.020MPa(Gauge)〜0.196MPaGauge)+105.0℃〜+162.2℃/75%rh〜100%rh/0.020MPa(Gauge)〜0.392MPaGauge)内法φ294×L318mmφ294×L318mm×2φ394×L426mmφ394×L426mm×2φ294×L318mmφ294×L318mm×27
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